ISO 19618-2025 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷) 用FTIR光谱仪测量黑体基准的标准光谱发射率的方法 标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-10-19 发布于北京
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ISO 19618-2025 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷) 用FTIR光谱仪测量黑体基准的标准光谱发射率的方法 标准立项发展报告.docx

精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷)用FTIR光谱仪测量黑体基准的标准光谱发射率的方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Fineceramics(advancedceramics,advancedtechnicalceramics)—MeasurementmethodfornormalspectralemissivityusingblackbodyreferencewithanFTIRspectrometer

摘要

随着精细陶瓷在航空航天、能源装备、半导体制造等高端领域的广泛应用,其在高温极端环境下的辐射传热特性日益受到关注。光谱发射率作为表征材料热辐射性能的核心参数,直接影响热管理系统的设计精度与能效评估的可靠性。然而,由于精细陶瓷材料种类繁多、表面状态复杂,行业内长期缺乏统一的光谱发射率测量方法标准,导致不同实验室间的数据可比性差、测量结果偏差大。ISO19618-2025《精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷)——用FTIR光谱仪测量黑体基准的标准光谱发射率的方法》应运而生,于2025年1月13日正式实施。该标准规定了以黑体为参考基准、利用傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)测量精细陶瓷法向光谱发射率的通用方法,涵盖测量原理、仪器配置、试样制备、校准程序、数据处理及不确定度评定等关键技

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