CN119415375A 一种存储单元性能的测试方法、装置及电子设备 (深圳市舟鸿半导体科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-10-18 发布于重庆
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CN119415375A 一种存储单元性能的测试方法、装置及电子设备 (深圳市舟鸿半导体科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119415375A

(43)申请公布日2025.02.11

(21)申请号202411473971.8G11C29/08(2006.01)

G11C29/56(2006.01)

(22)申请日2024.10.22

(71)申请人深圳市舟鸿半导体科技有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区福海街

道新田社区征程一路福宁2号502

(72)发明人蒋文杨冬艳蔡梁勇

(74)专利代理机构苏州睿翼专利代理事务所

(普通合伙)32514

专利代理师罗海妮

(51)Int.Cl.

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