YDT 7040-2026 接入网设备测试方法 无源光网络(PON)系统支持低时延和确定性时延 标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-10-20 发布于北京
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YDT 7040-2026 接入网设备测试方法 无源光网络(PON)系统支持低时延和确定性时延 标准立项发展报告.docx

接入网设备测试方法无源光网络(PON)系统支持低时延和确定性时延标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodsforAccessNetworkEquipment-PassiveOpticalNetwork(PON)SystemsSupportingLowLatencyandDeterministicLatency

摘要

随着5G网络规模化部署和工业互联网的快速发展,低时延与确定性时延已成为接入网的核心性能指标。无源光网络(PON)作为主流宽带接入技术,其时延性能直接关系到端到端业务质量保障能力。本标准(YD/T7040-2026)针对PON系统支持低时延和确定性时延的测试需求,规定了接入网设备在时延性能方面的测试方法和评估准则。本报告系统阐述了该标准的立项背景、技术框架、主要内容及实施意义。标准涵盖了PON系统低时延测试的基本要求、确定性时延的测量方法、测试环境配置、测试仪表要求以及结果评估等关键技术内容。该标准的制定填补了国内PON系统确定性时延测试领域的标准空白,为设备制造商、运营商及检测机构提供了统一的技术规范和测试依据,对推动接入网技术升级和支撑新兴业务应用具有重要的指导意义。

关键词:无源光网络;低时延;确定性时延;接入网设备;测试方法;5G承载;工业互联网;标准化

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