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订购半导体器件分析仪可以

省钱30%，加速先进器件的研发

面向研究人员和教育工作者的特价促销活动

开发先进器件的挑战

如今，移动网络正向着6G和更先进技术发展，能够处理海量数据的人工智能

和增强现实应用逐渐渗透到我们的智能手机和物联网设备中。研究人员始终

面临的一大挑战是：研发先进的设备功能，以便在设备功能越来越多的情况下

以越来越低的功耗实现更高的性能。

先进的智能手机和物联网设备设计大量采用新材料、新元器件和新的先进

技术，以更经济高效的方式提供更多功能。这些设备采用了全新的工作方式，

再依赖传统的IV和CV测量已经无法确定设备特征和验证可靠性。例如，表征

当今设备所需进行的先进测量包括：

•脉冲IV测量，用于预防自发热效应

•超快速NBTI/PBTI和RTN（随机电报噪声）测试，用于确保可靠性

传统的器件分析仪没有这些功能。它们的模块化程度也不够，无法添加这些先进

测量选件。显然，研究人员和教育工作者需要一种新的仪器来表征下一代智能

手机和物联网设备。他们需要更快、更高效的方法来表征和评测材料和半导体

器件，以及有源/无源器件。

面对先进器件的测试挑战，B1500A帮您做好准备轻松应对

KeysightB1500A半导体器件分析仪是一款综合解决方案，能够简单、快速和

准确地执行复杂测量，加速先进器件