IEC 61967-4：2021 集成电路电磁发射测量第4部分1欧姆150欧姆直接耦合法测量传导发射标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁发射测量第4部分：1Ω/150Ω直接耦合法测量传导发射标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticEmissions-Part4:MeasurementofConductedEmissions-1Ohm/150OhmDirectCouplingMethod

摘要

随着集成电路工作频率的不断提升和集成度的持续增长，芯片级电磁兼容性问题日益突出，传导发射的准确测量成为电磁兼容设计、验证与合规评估的关键环节。IEC61967-4:2021《集成电路电磁发射测量第4部分：1Ω/150Ω直接耦合法测量传导发射》作为国际电工委员会TC47/SC47A发布的核心测试标准，为集成电路传导发射的标准化测量提供了统一的技术框架和方法论依据。该标准规定了采用1Ω/150Ω直接耦合网络测量集成电路引脚传导发射电流与电压的测试条件、耦合网络特性、测量配置及数据处理要求，适用于各类数字、模拟及混合信号集成电路的电磁发射评估。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术演进脉络、主要内容框架及应用价值，分析了国际与国内相关标准体系的协调关系，并结合我国集成电路产业发展需求，提出了标准实施与后续修订的建议。研究表明，该标准的贯彻