IEC TR 62396-8：2020 航空电子设备的过程管理大气辐射效应第8部分航空电子设备中的质子、电子、π介子、μ子、α射线通量和单粒子效应意识指南标准立项发展报告.docxVIP

航空电子设备的过程管理大气辐射效应第8部分：航空电子设备中的质子、电子、π介子、μ子、α射线通量和单粒子效应意识指南标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:ProcessManagementforAvionics–AtmosphericRadiationEffects–Part8:Proton,Electron,Pion,Muon,Alpha-rayFluxesandSingleEventEffectsinAvionicsElectronicEquipment–AwarenessGuidelines

摘要

随着航空电子系统集成度的不断提高和半导体工艺特征尺寸的持续缩小，大气辐射环境中的高能粒子对航空电子设备可靠性的影响日益凸显。单粒子效应（SingleEventEffects,SEE）已成为导致航空电子系统软错误和硬故障的重要因素之一。IECTR62396-8:2020《航空电子设备的过程管理——大气辐射效应——第8部分：航空电子设备中的质子、电子、π介子、μ子、α射线通量和单粒子效应意识指南》由国际电工委员会（IEC）于2020年4月正式发布，是IEC62396系列技术报告的重要组成部分。该报告系统阐述了大气辐射环境中质子、电子、π介子、μ子及α射线等粒子的通量