CN119310113A 一种分子束外延碲镉汞薄膜的微观缺陷识别方法 (华东师范大学).pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约7.36千字
  • 约 7页
  • 2026-11-08 发布于重庆
  • 举报

CN119310113A 一种分子束外延碲镉汞薄膜的微观缺陷识别方法 (华东师范大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119310113A

(43)申请公布日2025.01.14

(21)申请号202411429376.4

(22)申请日2024.10.14

(71)申请人华东师范大学

地址200241上海市闵行区东川路500号

(72)发明人白伟曹贺淳唐晓东陈艳

王建禄

(74)专利代理机构上海蓝迪专利商标事务所

(普通合伙)31215

专利代理师徐筱梅张翔

(51)Int.Cl.

G01N23/04(2018.01)

G01N23/223(2006.01)

G01N23/2202(2018.01)

G01N1/32(2006.01)

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档