IEC 61967-8：2023 RLV：2023 集成电路.电磁发射的测量.第8部分辐射发射的测量.IC带状线法标准立项发展报告.docxVIP

集成电路电磁发射测量辐射发射的IC带状线法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:IntegratedCircuits–MeasurementofElectromagneticEmissions–Part8:MeasurementofRadiatedEmissions–ICStriplineMethod

摘要

随着集成电路工作频率的不断提升和集成度的持续增加，芯片级电磁兼容性问题日益突出，辐射发射的准确测量成为制约电子产品电磁兼容性能评估的关键环节。IEC61967-8:2023《集成电路电磁发射的测量第8部分：辐射发射的测量IC带状线法》由国际电工委员会（IEC）于2023年5月正式发布，是IEC61967系列标准的重要组成部分。该标准规定了采用IC带状线法测量集成电路辐射发射的术语定义、测试设备、试验配置、测量程序和报告要求，适用于各类集成电路电磁辐射发射的标准化评估。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、技术内容、与国际同类标准的对比分析以及应用前景，旨在为国内集成电路设计企业、检测机构和标准化工作者提供参考。研究表明，IC带状线法具有测试重复性好、场分布均匀、适用频率范围宽等优势，该标准的发布对于统一全球集成电路辐射发射测量方法、促进集成电路产业的国际互认具有重要意义。

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