GB-T 48341-2026《深紫外LED封装 加速寿命试验与寿命评估方法》.pptxVIP

GB/T48341—2026

深紫外LED封装加速寿命试验与寿命评估方法

1范围

本文件描述了AlGaN基深紫外LED封装(200nm～280nm)的辐射通量维持寿命的加速试验方法与寿命评估方法。本文件提供了根据短期辐射通量维持率测试数据来推算辐射通量长期维持寿命的条件和寿命评估程序。

本文件适用于AlGaN基深紫外LED封装(200nm～280nm)的寿命测试、分析及评估等。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

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