基於影像处理的奈米铁-镍粒子氧化铝粉末.pdfVIP

2008資訊科技國際研討會論文集 基於影像處理的奈米鐵-鎳粒子/氧化鋁粉末 (Fe-Ni/Al O )之粒徑量測與分析 2 3 彭徐鈞 張軒庭 國立雲林科技大學 國立雲林科技大學 通訊工程研究所 研究生 電機工程系 教授 e-mail ：g9651714@yuntech.edu.tw e-mail ：htchang@yuntech.edu.tw 注入受污染的地下水或土壤混拌，形成通透性 摘要 反應牆 (Permeable reactive barrier) ，去除含氯溶 使用無電鍍法製備 Fe-Ni 奈米粒子於氧化 劑等有機污染物及處理其他環境污染物如 鋁（ Al O ）粉末，可生成Fe-Ni 粒子附著於氧 砷、汞、重金屬等等。而將觸媒金屬 Pd 、Ag 2 3 化鋁粉末上，亦或形成 Fe-Ni 薄膜包覆氧化鋁 等以置換的方式覆蓋在 Fe 奈米金屬粒子，形 粉末。本論文使用影像處理技術分析掃描式電 成奈米 Pd/Fe 、Ag/Fe複合金屬 (bimetal)粒子， 子顯微鏡(Scanning electron microscope, SEM) 可加速催化 Fe 金屬粒子的還原分解能力。 拍攝之奈米粒子影像內容特徵並做定量分 因應趨於複雜的環境污染源，開發結合奈 析，可提供更多材料生成後的資訊，我們所提 米材料和微米基材之複合功能性的奈米材 出的影像處理演算法可自動擷取奈米 Fe 、Ni 料，利用無電鍍法沉積奈米 Fe-Ni在微米 Al2O3 粒子，並可量測與統計 Fe-Ni 奈米粒子粒徑大 粉末上，改變製程參數如：主要金屬離子比、 小。 添加物、 pH 值、鍍液溫度、析鍍時間等，以 製作不同鐵-鎳含量的奈米粒子，再運用感應式 關鍵詞 ：奈米粒子、影像分析、掃描式電子顯 耦合電漿原子放射光譜 (ICP-AES) 、電子顯微鏡 微鏡、區域成長法 (TEM 、SEM 、FE-SEM) 、電子顯微鏡附設能量 Abstract 分析儀(TEM/EDS) 、X 光繞射儀、BET 比表面 The electroless plating method is used to 積測定儀等測定奈米鐵 -鎳粒子氧化鋁粉末的/ produce nanometer particles of Fe-Ni/Al2O3 性質，並進一步測試不同鐵-鎳含量對含氯有機 powder, which have Fe and Ni particles and 物的降解情形。接著結合奈米 Fe-Ni ，形成高 Fe-Ni thin film on its surface. In this paper, the 比表面積、高活性、兼具吸收與分解功能的複 image processing techniques are used to extract 合奈米材料，希望藉由奈米 Fe-Ni 提高吸附及 the features of nanometer particles in 分解有機物的效能，並將之應用於