元件识别与检测.ppt

如检测温敏电阻时，用万用表R×1档，先进行常温检测，将两表笔接触PTC的2个引脚测出其实际阻值，并与标称阻值相对比，二者相差在±2Ω内即为正常。实际阻值若与标称阻值相差过大，则说明其性能不良或已损坏。再加温检测，将热源(如电烙铁)靠近PTC对其加热，同时用万用表监测其电阻值是否随温度的升高而增大(或减小)，如是说明热敏电阻正常，若阻值无变化，说明其性能变劣，不能继续使用。 注意：不要使热源与PTC热敏电阻靠得过近或直接接触热敏电阻，以防止将其烫坏。 电阻检查法：用万用表的电阻档测量行输出变压器各绕组的电阻值，一般情况下只能判断其通断，不能判别其性能好坏。正常时行输出变压器因型号不同，其绕组的绕制数据略有差异，但主要绕组的电阻检测值差别不大，除了高压绕组内部因串接了几只整流管而测得其阻值为∞以外，其余的各低压绕组的电阻值为0.1～0.8Ω。 波形检查法：就是用示波器检查行输出变压器某一绕组的电压波形并与正常波形(形状、频率、幅度)进行比较即可判定行输出变压器是否正常。 耐压值：16V；25V；50V；100V等。 允许误差 普通电容：：±5%（I，J）、±10%（II，K）、 ±20%（III，M）； 精密电容：±2%（G）、±1%（F）、±0.5%（D）、±0.25%（C）、±0.1%（B）、±0.05%（W）。 一般三极管的型号由下列5部分组成：第1部分用数字3表示；第2部分用汉语拼音字母表示三极管的材料和极性A-锗材料PNP，B-锗材料NPN，C -硅材料PNP，D-硅材料NPN；第3部分用汉语拼音字母表示三极管的类型，X-低频小功率管，G-高频小功率管，D-低频大功率管，A-高频大功率管；第4部分用数字表示序号；第5部分用汉语拼音字母表示规格号。 用万用表R×1Ω档测量亮度延迟线输入与输出脚之间正常时的电阻应为几十Ω，输入/输出脚对地均应为∞。梳状滤波器各引脚间的电阻正常时均应为∞。 亮度延迟线和梳状滤波器的性能可用直观检测法、替代法和电阻法进行判断。 若图像出现彩色镶边现象，则说明亮度延迟线性能不良；若出现彩色很浓的图像或将彩色关闭后无图像（即亮度丢失）而亮度电路的其它元器件正常，则为亮度延迟线开路。若图像出现彩色爬行现象（百叶窗效应）或无彩色，而色度通道其它电路正常，则是梳状滤波器性能不良或开路，可用替代法验证。 十、显像管的识别与检测 （3）可变电容器的检测 空气可变电容器：可以在转动其转轴的同时，观察其动片与定片之间是否有碰片情况，也可用万用表检测。 薄膜可变电容器：可以用万用表的R×1K档，测量其动片与定片之间的电阻值的同时，转动其转轴，正常值应无穷大。若转动到某一处时，万用表能测出一定的电阻值或阻值变为 0 ，则说明该可变电容器存在漏电或短路故障。 四、晶体管器件的识别与检测 晶体管器件型号由5部分组成。 第1部分用数字表示晶体管器件有效的电极数目，如2-二极管、3-三极管； 第2部分用汉语拼音字母表示晶体管器件的材料和极性。表示二极管时，A-N型锗材料、B-P型锗材料、C-N型硅材料、D-P型硅材料； 第3部分用汉语拼音字母表示晶体管器件的类型，P-普通管、V-微波管、W-稳压管、C-参量管、Z-整流管、L-整流堆、S-隧道管、N-阻尼管、U-光电器件、K-开关管、X-低频小功率管(f＜3MHz，Pc＜1W)、G-高频小功率管（f＞3MHz，Pc＜1W)、D-低频大功率管（f＜3MHz,Pc＞1W)、A-高频大功率管（f＞3MHz,Pc＞1W)、T-晶闸管（可控整流器）、Y-体效应器件、B-雪崩管、J-阶跃恢复管、CS-场效应管、BT-晶体管特殊器件、FH-复合管、PIN-PIN型管、JG-激光器件； 第4部分用数字表示序号； 第5部分用汉语拼音字母表示规格号。 1、二极管器件的识别与检测 二极管器件由1个PN结、电极引线和外加密封管壳制成，具有单向导电性。按其用途可分为普通二极管、整流二极管、开关二极管、发光二极管、变容二极管、稳压二极管、光敏二极管等。 二极管的主要参数：正向电流IF、正向电压降VF、最大整流电流（平均值）ICM、反向击穿电压VB、正向反向峰值电压VRM、反向电流IR、结电容C、最高工作频率FM等。 （1）普通二极管的识别与检测 观察外壳上的的符号标记、色点或色环(白色或红色)来判断极性。通常在二极管的外壳上标有二极管的符号、色点或色环，带有三角形箭头或色点的一端为正极，另一端是负极，带色环的一端为负极。 触丝 半导体片 用万用表电阻