激光制造中双光谱测温法发射率的补偿优化.pdfVIP

第23卷第12期 强 激 光 与 粒 子 束 VoI．23。No．12 201i年12月 HIGHPOWERLASERANDPARTICLEBEAMS Dec．。2011 文章编号：1001-4322(2011)12-3287—05 激光制造中双光谱测温法发射率的补偿优化。 姚建华1’2， 苗建民h2， 戴连奎3， 叶诗豪1’2 (1．浙江工业大学特种装备制造与先进加工技术教育部／浙江省重点实验室．杭州310014I 2．浙江工业大学激光加工技术工程研究中心．杭州310014}3．浙江大学工业控制技术国家重点实验室，杭州310027) 摘要： 为进一步提高温度测量精度，以激光照射下普通钢的熔池为研究对象，通过对发射率模型的合 理假设，实现了双光谱测温系统的补偿优化。测量结果显示，针对普通钢的温度测量时．发射率采用指数模型 可以取得很好的测量效果．测量误差在4％以内。同时，在同一种测量条件下将优化后的测温法与传统的比色 法测温进行精度比较，证实与比色法相比该方法的误差显著减少。通过对数据处理的误差做定量分析，得出其 误差在13～25℃之间。 关键词： 激光技术； 高温测量； 发射率模型；普朗克公式 中图分类号：0436 文献标志码： A doi：10．3788／HPLP3287 目前，高温的主要测温方式仍然是接触式测温，但这种方法无法在恶劣环境下(如腐蚀、剧毒等)测量，也无 法对高温及超高温物体进行测量，而且接触式测温损耗大，反应不灵敏。基于上述原因，人们逐渐将眼光转移 到非接触式测温，而光谱测温以其独特的优势在非接触测温中得到越来越多的认可。光谱测温仪作为温度遥 测设备，已被应用于生产实践中，而且使用数量日趋增加。它主要由光电探测系统以及数据处理系统组成。随 着各种测量方法的改进和软件的完善，其测量误差也越来越小[1]。光谱测温仪的误差主要来源于测温方法中 发射率的处理，目前处理方法主要有两种，一种是假定待测物体为灰体(物体发射率为定值)，另外一种是通过 假定发射率模型，而后采用多个通道光谱信号求得模型系数。后一种处理方法以其较强的适用性得到了更多 关注[2]。本文介绍了传统比色法测温的原理及误差来源，并结合多光谱测温的思想，对原始双光束测温结果进 行误差补偿改进，然后将新的测量方法与原始方法进行误差比较，并对误差来源进行了定量分析。 1光谱测量原理 光谱测温的原理建立在描述物体表面发出的光谱与表面温度及光谱波长间关系的普朗克公式上 ^4(A，T)=C1．=I一5[exp(C2／ZT)——1]一1 (1) 5士0．0003) 式中：M(A，T)为温度丁时物体的光谱辐射度；T为物体表面温度；A为波长；C，一27rhc2一(3．741 79土0．000 ×108，为第一辐射常数；C2=hc／k一(1．43819)×104，为第二辐射常数。其中，h为普朗克常量，f 为真空中光速，足为玻耳兹曼常数。对于一般物体，由于发射率的干扰。式(1)可写为 M(X，T)=e(A，T)Cl|：I一5[exp(C2／AT)——1]一1 (2) 式中：￡(A，T)为物体发射率。 在实际测量中，当AT《1，即可用维恩公式代替普朗克公式 ^玎(A，丁)=e(A，T)ClA一5exp(——C’2／AT) (3) 测量中光谱探测器检测到光谱信号主要由4个部分组成[3] Mm(．：I)=M。(A)+Mrf(A)+M。(A)+M，(A)(4) 在测量中，由于式(4)中后两项的值远远小于前两项，因此可以忽略不计。式(4)可表示为 Mm(|：I)=旬