低场磁共振对诊断低血糖性脑损害的临床应用.pdfVIP

医学信息2011年6月第24卷第6期 MedicalInformation．Jun．2011．Vo1．24．No．6 低场磁共振对诊断低血糖性脑损害的临床应用 韦 学，卢忠武 (河池市人 民医院放射科 ．广西 河池 547000) 摘要：目的探讨低场磁共振颅脑成像对低血糖所致脑损害的诊断价值 。方法 回顾性分析25例低血糖患者MRI资料，25例患者进行了头部 MR扫描。包括常规 T1W I、T2、WI和FLAIR扫描 。结果 25例首次常规 T1WI、T2WI中，8例T1WI呈现异常信号，表现为受)l部【位皮层 T1 信号减低 5例、稍短 T1信号2例；10例 T2WI见异常信号，均表现为受累部位皮层及皮层下T2信号稍增高且灰 白质分界不清。25例首次 FLAIR检查中23例 出现异常高信号．受累脑 区包括双侧枕 叶皮层 4例 、右侧枕 叶皮层2例 、左侧枕叶皮层及皮层下 2例，双侧枕叶皮层及皮层 下4例、双侧顶枕叶皮层 4例 、双侧项枕 叶皮层及皮层下 5例、胼胝体压部 8例、双侧放射冠 4例 、左侧尾状核及苍 白球 2例 、右侧背侧丘脑 2 例 、双侧 内囊后肢2例 。8例经过2O一6O天后复查中，受累枕叶 白质明显萎缩4例，枕 叶白质 内软化灶 5例 ，枕叶皮层见条状稍短 T1稍长T2信 号3例．双侧大脑半球 白质呈弥漫性脱髓鞘改变 1例，胼胝体压部 T2高信号消失 1例，胼胝体压部仍见稍高T2信号 1例 。结论 低血糖脑损伤 多发生在双侧顶、枕叶后部脑组织．早期的FLAIR扫描有助于低血糖脑损伤的早期发现和评估。 关键词 ：低场磁共振 ；低血糖 ；脑损伤 1方法和材料 历时较久 ，脑细胞可发生不可逆转的病理改变，如脑水肿、点状出血、 1．1临床资料 收集我院2004到2009年以来低血糖病人25例，均 坏死、软化等 ；因此，低血糖所致脑损害的MRI表现与病情程度有 为临床确诊低血糖患者；其中男性 11例，女性 13例 ，最小年龄4岁， 关，与低血糖持续时间有关2[1。低血糖引起的脑损伤主要位于大脑皮 最大年龄为79岁，平均年龄为58岁。25例患者中有糖尿病史 l9 质、尾状核、豆状核、黑质和海马，而以发生在双侧顶、枕叶后部脑组 例 ，其中长期应用胰岛素6例；合并原发性高血压9例；即往有脑梗 织为多见；这是由于葡萄糖的减少可以导致大脑能量的缺失和大脑 死病史6例。发病前服用降糖药过量或注射胰岛素过量5例。 脑膜离子泵的衰竭，引起水分子向细胞内运动和细胞外水容积的明 1．2临床表现 25例患者均急性起病，表现为一侧肢体运动障碍，貌 显减少，导致细胞毒性水肿 。其磁共振表现主要为顶枕区灰白质交 似脑血管意外，其中伴昏迷3例 ，伴神志淡漠、意识恍惚、烦躁不安、 界区及白质内的稍长T1稍长T2信号 ，在FLAIR上呈明确的高信 嗜睡11例，大汗淋漓6例，饥饿感5例 ，抽搐 1例，病变侧肢体锥体 号；从本组资料显示 ；常规的磁共振T1wI、T2WI可以发现病变，而其 束征阳性 13例。 敏感性明显低于FLAIR；FLAIR是一种对组织中水分子的微观运动 1．3机器设备 MRGE0．2T磁共振成像仪。 敏感的成像技术。怀疑低血糖所致脑损伤应常规采用FLAIR检查技 1．4方法所有病例均常规进行T1wI、T2WI、FAL IR成像。 术，它能更大范围地及更早期的检测出脑组织的损伤。而本组病例 2结果 在其复查后出现的T1wI、T2WI稍高信号改变，可能与脑损伤后脑组 25例首次常规T1wI、T2wI中，8例T1wI呈现异常信号，表现 织变性脂肪化有关。 为受累部位皮层T1信号减低5例、受累皮层稍短T1信号2例；1O 由于低血糖性脑损害与脑梗死l}缶床表现相似，均会出现肢体运 例rI12wI见异常信号，均表现为受累部位皮层及皮层下 1’2信号稍增 动功能障碍，故易引起临床误诊H。但是脑梗死常较少引起患者意识 高且灰