基于小波r 神经网络的电阻性开路故障诊断方法.pdfVIP

山东科学 第２６卷　第１期　２０１３年２月出版 ＳＨＡＮＤＯＮＧＳＣＩＥＮＣＥ Ｖｏｌ．２６Ｎｏ．１Ｆｅｂ．２０１３ ＤＯＩ：１０．３９７６／ｊ．ｉｓｓｎ．１００２－４０２６．２０１３．０１．０１２ 基于小波 －神经网络的电阻性开路故障诊断方法 余长庚，赖丽萍 （广西贺州学院 ，广西贺州５４２８００） 摘要：数字电路中的电阻性开路引起时滞性故障，会使电路的功能失效。针对此故障，本文在分析数字电路的瞬态电流 Ｉ 测试和主成分分析技术的基础上，研究了小波－神经网络诊断电阻性开路故障的方法。结果表明，使用小波－神经 ＤＤＴ 网络的数字电路的Ｉ 方法行之有效。 ＤＤＴ 关键词：电阻性开路故障；瞬态电流Ｉ ；小波分析；主成分分析 ＤＤＴ 中图分类号：ＴＰ３　　　文献标识码：Ａ　　　文章编号：１００２４０２６（２０１３）０１００５６０４ Ｗａｖｅｌｅｔａｎａｌｙｓｉｓａｎｄｎｅｕｒａｌｎｅｔｗｏｒｋｂａｓｅｄｆａｕｌｔｄｉａｇｎｏｓｉｓ ｆｏｒｒｅｓｉｓｔｉｖｅｏｐｅｎｄｅｆｅｃｔｓ ＹＵＣｈａｎｇｇｅｎｇ，ＬＡＩＬｉｐｉｎｇ （ＨｅｚｈｏｕＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙ，Ｈｅｚｈｏｕ５４２８００，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ∶Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅｏｐｅｎｄｅｆｅｃｔｓｉｎａｄｉｇｉｔａｌｃｉｒｃｕｉｔｗｉｌｌｃａｕｓｅａｔｉｍｅｄｅｌａｙｆａｕｌｔａｎｄｆｕｎｃｔｉｏｎａｌｆａｉｌｕｒｅｏｆａｃｉｒｃｕｉｔ．Ｗｅ ａｄｄｒｅｓｓａｆａｕｌｔｄｉａｇｎｏｓｉｓｍｅｔｈｏｄｏｆｒｅｓｉｓｔｉｖｅｏｐｅｎｄｅｆｅｃｔｓｗｉｔｈｗａｖｅｌｅｔａｎａｌｙｓｉｓａｎｄｎｅｕｒａｌｎｅｔｗｏｒｋｂａｓｅｄｏｎｔｈｅａｎａｌｙｓｉｓ ｏｆｔｒａｎｓｉｅｎｔｐｏｗｅｒｓｕｐｐｌｙｃｕｒｒｅｎｔ（Ｉ ）ａｎｄｐｒｉｎｃｉｐａｌｃｏｍｐｏｎｅｎｔａｎａｌｙｓｉｓ．Ｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗｔｈａｔｔｈｅｍｅｔｈｏｄｉｓｆｅａｓｉｂｌｅ． ＤＤＴ Ｋｅｙｗｏｒｄｓ∶ｒｅｓｉｓｔｉｖｅｏｐｅｎｄｅｆｅｃｔｓ；ｔｒａｎｓｉｅｎｔｐｏｗｅｒｓｕｐｐｌｙｃｕｒｒｅｎｔ（Ｉ ）；ｗａｖｅｌｅｔａｎａｌｙｓｉｓ；ＰＣＡ ＤＤＴ 　　数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间，由于缺陷电阻的存在而引起的故障。 电阻性开路故障一般不会立刻引起电路的电压性故障，但它会造成时滞性故障，并且使用基于电压测试的方 法不能对电阻性开路故障进行有效检测［１－２］；电阻性开路故障含有一些不可靠性因素，在电路工作过程中， 有可能会使电路功能失效，从而造成产品的可靠性下降。 ［３］ Ｒｉｕｓ 研究了电源电压、测试速度和温度等测试条件对电阻性开路故障的影响，但国内对这方面的研究 并不是很多。本文针对ＣＭＯＳ电路的电阻性开路故障，采用基于瞬态电流Ｉ 的故障诊断方法，以常用的 ＤＤＴ ＣＭＯＳ组成的倒相器链为实例。首先对电源电流的瞬态电流Ｉ 的波形进行采样，根据正常电路与故障电路 ＤＤＴ 的瞬态电流的变化波形进行比较，从而发现电阻性开路故障；为了提高故障诊断率和诊断速度，利用主成分 分析、小波和神经网络等技术进行故障诊断。 １　基于小波－神经网络的故障诊断技术 瞬态电流Ｉ 的测试是从被测电路的电源ＶＣＣ到地回路之间，通过对电源电流观察来判别被测电路是 ＤＤＴ 收稿日期：２０１２０８１