基于Multisim 10 的电子电路可靠性研究.docVIP

基于Multisim 10的电子电路可靠性研究 雷 跃 谭永红 （柳州铁道职业技术学院 广西 柳州545007） 【摘要】利用Multisim 10平台进行电子电路设计的可靠性研究，可以有效地解决传统分析方法难以对电子电路设计进行容差精确分析的技术问题。方法为统计取样法，其理论基础是概率论中的大数定理，基本原理是根据指定的分布规律在器件参数容差范围内随机地选取元器件及电路工作条件参数，再经大量计算，分析出电路性能的统计规律。通过实例，说明应用Multisim 10进行蒙特卡罗分析和最坏情况分析的方法和步骤，呈现出Multisim 10在电子电路设计的可靠性研究中出色的应用效果和广阔的应用前景。 【关键词】容差分析；仿真分析；可靠性 【收稿日期】2010-3-5 【作者简介】雷跃(1958-)，男，湖南长沙人，柳州铁道职业技术学院现代技术中心主任，高级实验师，主要从事电气自动化控制技术研究；谭永红(1959-)，女，广西桂林人，柳州铁道职业技术学院电子工程系高级实验师，主要从事应用电子技术研究。 【中图分类号】TN702 【文章标识码】 A Reliability Research of Electronic Circuit Based on Multisim 10 Lei Yao Tan Yong-hong (Liuzhou Railway Vocational Technical College，Liuzhou Guangxi 545007) Abstract： using Multisim 10 platform to research the reliability of electronic circuit design can effectively solve accurate tolerance analysis of the electronic circuit design. This method called statistical sampling is based on Bernoulli Theorem in Probability Theory. According to the specified distribution rule, it selects the Electron Component and work condition parameters within the tolerance randomly, then by virtue of calculation, analyzes the statistical regularity of the circuit performance．Through examples，the methods and steps of the Monte Carlo analysis and the worst case analysis by Multisim 10 are illustrated, and the outstanding effect and broad prospect of Multisim 10 in the reliability consideration of electronic circuit design are presented. Key words：tolerance analysis；simulation analysis； reliability 1 引言 对于高精度的复杂电子系统，其稳定性问题在系统可靠性中占有很重要的地位。由于制造工艺和使用条件原因，任何电子产品都不可避免地会受到随机扰动因素的影响实际电路中的元器件参数和其标称值之间随机误差使用时间的增加环境的变化容差分析全面系统可靠性分析分析使的设计达到高质量、高可靠性，降低成本，缩短开发周期。它是按照元器件的参数容差所服从的统计分布规律，用一组组伪随机数，求元器件参数的随机抽样序列，而在不同的器件参数的随机抽样序列下进行电路特性仿真，并通过多次分析结果的综合统计分析，得到电路特性的分散变化规律，较好地模拟实际情况。应用蒙特卡罗分析，可出电路性能的均值、最大值、最小值、方差、电路的合格率及电路性能的统计分布直方图等。exp[-] 式中，μ为标称参数值；x为独立变量；σ为标准偏差（SD）值： σ = 误差百分比×标称值。例如：电路中一个1kΩ的电阻，误差百分比设定在5%，σ等于50Ω，即误差范围为0.95~1.05kΩ，则总体百分比为68%。即有68%电阻值在0.95~1.05kΩ范围变化。 最坏情况是指电路中的元件参数在其容差域边界点上取某种组合以造成电路的最大误差，而最坏情况分析是在给定电路元器件参数的情况下，估算出电路