341-電子連接器鹽霧腐蝕測試(TP26A).docVIP

EIA測試規范(系列五) 電子連接器鹽霧腐蝕測試(TP26A) 鹽霧腐蝕﹐英文為Salt Spray Corrosion 目標﹕這測試程序的目標是藉一詳細標准測試方法以達成評估在一控制鹽霧的環境下對電子連接器組件﹐表面狀態及機構的影響。 簡述﹕鹽霧試驗﹐顧名思義即是將試片置於鹽水溶液所制造的細霧中﹐當考慮它本身的不足與限制﹐多少具有幾種有用的目的。如想將所測試的結果和海岸環境影響連在一起﹐它尚無直接量化的關系﹐它的有用性在於對不同材料或保護涂層耐腐蝕性質的比較性方面﹔期藉由鹽霧試驗結果的好壞﹐可以做為上述材質耐 腐蝕抵抗相對的強弱。除非在規格中所提到﹐這項測試並無計劃在電性測試進行。 試片的准備﹕ 4．1一試片應包含一連接器集成﹐其 中包含線﹑接點﹑密封插頭及 依詳細規格之配件。 4．2試片鑲放方式應與平常使用狀態 類似﹐且與試片依測試程序所 述置入柜中擺放的要求一致。 4．3除非另有指明﹐一般連接器集成 將是一種接合(mating)的狀態。 4．4除非特別指明﹕ 試片應盡量給予最小的處理﹐尤其是表面的部份﹐應在曝露前盡快准備測試。 試片如沾有油污﹐應以合適方式予以清潔。 試片如有帶一有機涂層﹐不可用溶劑清潔。 右使用臘或類似可以防止溼氣透的物質做涂裝(coating)物質﹐用於試片會和支架接觸的部份。在已涂裝的試片﹐雖然切削邊(cut edge)及表面並沒有要求涂裝﹐但也要予以保護。 5．測試方法﹕ 5．1測試設備 5．1．1測試柜 測試柜及所有附屬件﹐所用的材料如﹕玻璃﹐橡膠或塑膠﹐不可受到鹽霧腐蝕的影響﹐木頭板不可以使用﹐因為他們會產生樹脂(resiniferous)﹐材料如含有甲醛(formaldehyde)或苯酚(phenol)的成分的材料則不能使用。除此之外﹐所有會和試片接觸的組件不能產生電解腐蝕(electrolytic corrosion)。測試柜及配件的建照及安排﹐必須考慮所噴的 鹽霧在柜內能自由循環﹐每個試片都承受相同程度的鹽霧﹐不會在回流回到鹽水溶液庫前時變成液體與試片接觸﹐鹽霧也不會與試片直接撞擊或凝結鹽霧滴在試片上。測試櫃必須適度抽氣以避免壓力累積在柜內﹐並允許鹽霧均勻地散佈。通風出口端因引起強力氣流﹐有強的拖拉力﹐應予以保護。 5．1．2噴霧器(Atomizers) 單一噴霧器或多管都可經過設計﹑建造而產生非常細而分開﹐溼而濃的霧氣。 噴霧器的壓縮空氣不含如油污等之雜質。應有合適工具/方法可用來增加壓縮空氣的濕度及溫度以符合操作條件的要求。當使用噴霧器時﹐氣壓應適度調整以便產生細而濃的霧氣﹐為了避免噴霧器因為鹽的沉積造成堵塞的問題﹐噴嘴出口點之空氣將須維持在95到98%的相對濕度。為達到此可使空氣於一個含有加熱很細的冒泡水塔中通過。水溫維持在35℃(95℉)或一般高於此溫度。所允許溫度將伴的降低而增加。通常測試柜周遭的溫度不可超過某一值而導致過量的濕氣貫入測試柜內(例如﹕氣壓在12psi﹐43.3℃(100℉)便是一臨界值)﹐或者溫度超過某一值便無法滿足操作溫度的要求。 5．1．4鹽水溶液 鹽水溶液的濃度應維持5%﹐所使用的鹽在干式主要為摧氯化鈉﹐所含碘化鈉及全部雜質分別不得超過0.1%及0.5%﹐5%的溶液的配置是由5±1份重量的鹽溶於95份重量的蒸餾水或其他純水中所含的固態物不得超過50ppm(0.005%)。溶液將進一步使用非腐蝕性過濾裝置致去除其固態物﹐然後將此溶液依照圖1所示調整且維持到一特定的比重值。另外﹐P H值在33.9°到36.1℃93 (°到97℉)溫度測量﹐其值應維持在6.5至7.2之間。僅僅試藥級經稀釋後的鹽酸或氫氧化鈉可允許用來調整其P H值。P H值的測量可以用電位法﹐即使用飽和氯化鉀鹽橋工色度法(colormetric)﹐後者得到的結果和前所述電位法都可得相同的結果。 2測試程序 5．2．1試片的放置 試片應在試片頂端使用玻璃或塑膠鉤子﹑上臘的絞線﹑線或尼龍細線來加以懸吊。 假使所使用的塑膠鉤子﹐必須確立加工成型的塑膠材料對鹽水不會起反應。在這實驗中不允許使用金屬鉤子。試片的放置要確保它們均勻葉受到鹽霧且試片彼此不可接觸或一試片擋住另一試片承受自由散布的鹽霧。一試片所產生的腐蝕生成物離開試片﹐要注意不可落在另一個試片上。試片有肓洞的部位在懸吊時要注意讓洞的開口端盡可能朝下。 5.2.2操作條件 溫度 鹽霧櫃內試片曝露區的測試溫度應維持35℃(95℉)﹐上限+1.1℃(+2℉)﹐下限-1.7℃(-3℉)。可藉將該設備置於溫度控制良好的房間﹐設施有周全的絕熱且在噴霧前預熱空氣到合適的溫度﹐設備加上罩子(jacketing)且控制所用水及空氣的溫度。在柜內為保溫而使用浸入式加熱器(immersion heater)是被禁止