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第八章 粉末X 射线衍射的应用 第一节 晶粒大小与晶格畸变的测定 一 影响衍射峰宽化的因素 1 样品本身物理因素引起的宽化 当样品晶粒小于0.1μm 或试样晶格受力后发生畸变时 则样品的衍射峰就会 发生宽化 霍尔(Hall)法的谢乐方程(Scherrer)方程可表达为 β = K λ / L cosθ + 4 e tgθ (8-1) 两边乘 cosθ / λ可得 β cosθ / λ = K / L + 4 e sinθ / λ 其中 β为样品物理宽化(即晶粒大小和晶格畸变引起的宽化) 的峰形宽度(单位为 弧度rad) θ 为衍射峰的布拉格(Bragg)角(单位为度(˚)) λ 为实验所用的衍射线 的波长(单位为Å) L 为样品垂直于(hkl)面网方向上的平均晶粒大小(Å) e ( = δd / d ) 为样品垂直于(hkl)面网方向上的平均晶粒畸变大小(upper-limit mean strain) K 为常数 与β的定义有关 即半高宽β 取K=0.9 积分宽度β 取K=1 半高 1/2 i 宽β (FWHM)是指相当于衍射峰最高点强度一半处的峰形宽度 而积分宽度β 1/2 i 是指相当于一个面积等于衍射峰所占面积 长度为衍射峰最高点强度的矩形的宽 度 威廉森-霍尔法(Williamson-Hall plot)方程为 β cosθ= K λ / L + 16 e sin2θ / β cos θ (8-2) 2 测试仪器引起的宽化 由于仪器和X 射线衍射方法原理本身的原因 即使标准样品(无晶粒细化和 晶格畸变) 其衍射峰也有一定的宽度 它主要与X 射线源 接收狭缝(RS) 试 样吸收 平板样品和垂直发散等因素有关 通常可用标准样品(standard reference material (SRM))如NIST 640 silicon(Si)和LaB6 等作仪器宽化曲线加以校正 如 衍射仪为理学D/max-Rc 其实验条件可采用DS(发散狭缝)1˚ SS(散射狭缝) 1 RS(接收狭缝) 0.15mm 进行测量 如图8-1 所示的是用Si 粉所作的仪器宽化曲线 纵坐标为标准样品的半高宽(b ) 横坐标为2θ角 应引起注意的是进行待测样品 o 测量的实验条件应与标样校正的实验条件一致 特别是狭缝的大小 二 Kα双峰宽化修正 J. X. MI Page 1 04-4-29 目前除采用如德国Huber 公司 Guinier 等少数的衍射仪 可获得单一的 Kα (CuKα=1.54056Å, Ge 单色器)衍射线外 通常的衍射仪(石墨单色器)均含Kα 1 1 1 和Kα 两种波长的衍射线 它们在低角度区相互重叠 到高角度区就会出现双峰 2 分裂(如图 8-2) 如用B 表示待测样品的半高宽 b 表示标样的半高宽 求样品 的物理宽化β值时 视具体情况可作如下分别处理 图8 - 1 仪器宽化曲线(引自文献[1]) (1) 当B / b 8 时 可不必进行Kα双峰校正 直接以标样半高宽b 作为仪器宽 度 其物理宽度β = B - b; (2) 当8 B / b 3 时 可用图8-3 进行Kα双峰校正 而后用图8-4 作仪器宽化 校正 求出物理宽度β; (3) 当B / b 3 时 可采用Rachinger