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维普资讯
锄
NanoelectronicDevice & Technolog
原位电化学法制备纳米尺寸
金属肖特基势垒研究
符秀丽,王太宏
(中国科学院物理研究所,北京 100080)
摘要:介绍了原位 电化学方法在半导体表面制备纳米尺寸 肖特基势垒的工艺,讨论了其制备原
理和实验条件,描述了纳米尺度金属/半导体界面特性,并对这种方法制备的肖特基势垒与传统
方法制备的 肖特基势垒进行 了比较 ,这种制备 肖特基势垒的方法克服 了传统制备方法的缺点,
所形成的金属一半导体界面光滑无缺陷;生成的纳米尺度金属 肖特基势垒可用于制备单电子晶体
管、单电子存储器等纳米器件。
关键词:肖特基势垒;原位电化学方法;脉冲电镀;纳米金属点
中图分类号:TN304.23;TN305 文献标识码:A 文章编号:1671-4776(2002)ll一0005—05
Study on thefabrication of
nanometer.sized metal-semiconductor
interfacesby in situ electrochemicalprocess
FU Xiu—li,W ANG Tai—hong
(InstituteofPhysics,ChineseAcademyofSciences,Bejiing100080,China)
Abstract:Theformationofnano—metalarrayon GaAsand InP substrate by in situ electrochemi—
cal process and the properties of the nanometer-sized metal—-semiconductor interfaces are intro—-
duced in thispaper.Th e mechanism ofelectrochemicalprocessand the effectsofthe experiment
conditionson thepropertiesare discussed.Th ismethodovercomesmany disadvantagesofconve~
tionalmethod,the metal—semiconductor surface issmooth,the nanometer-sized Schottky barrier
beingfomr edcanbeused in fabricatingSET,SEM etc.
Key words:Schottky barrier;in situ electrochemicalprocess;pulseplating;metalnano—dot
因为纳米器件的可靠性和稳定性均与半导体的表
1 引 言
面状态有关 ,纳米器件的性能主要取决于能否形
随着传统半导体器件特征尺寸的下降以及人 成具有牢固栅控特性的肖特基势垒。
们对纳米器件兴趣的提高 ,在 n型 GaAs、InP等 形成肖特基势垒的传统方法有: (1)电子束
半导体衬底表面形成无界面缺陷、无氧化物、无 沉积 (EBD)法,该法会在半导体表面附近引入诱
应力的纳米尺寸 肖特基势垒具有十分重要的意义 , 导的深能级 】『],这种深能级将导致连接质量的降
收稿 日期:2002—08-24
基金项 目:国家自然科学基金资助项 目 ;国家重点基础研究专项经费资助项 目 (G2001CB3095)
冽 . /N0vember2002 ●I
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