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石 油 化 工
8·02 · PETROCHEMICAL TECHNOLO GY 2000 年第 29 卷
讲 座
固体催化剂的研究方法
第六章 EXAFS 方法
寇 元 ,邹 鸣
(北京大学 化学与分子工程学院 ,北京 100871)
迄今为止的物质结构探测技术一般都是以晶体 ———长
程有序结构的衍射现象为基础 , XAFS ( X - Ray Absorption
)
Fine Structure ,X 光吸收精细结构谱 是例外 。XAFS 之所以
( )
能成为研究非晶 包括液体 结构的有力工具 ,原因在于它是
以散射现象 ———近邻原子对中心吸收原子出射光电子的散
射为基础 ,反映的仅仅是物质内部吸收原子周围短程有序的
结构状态 。晶体学的理论和结构研究方法不适用于非晶体 ,
而 XAFS 的理论和方法却能同时适用于晶体和非晶体 ,其原 图 1 Cr 的 K 吸收边和 L 吸收边绝对能量位置示意图
(
因即在于此 。并不容易理解的是 ,就材料的基本性质 化学 12 EXAFS 现象
)
的和物理的 而言 ,长程有序并不是必须的 ,处于支配地位的 实验测得一个 XAFS 谱示意于图2 。图2 中 E T 代表中
是材料内部粒子排布的短程有序状态 。明了这一点对于运
用 XAFS 确定的结构参数解决材料研究中的结构问题大有
裨益 。XAFS 的另一个明显优点是 , 由于不同种类原子吸收
边的能量位置不同 ,因而可以方便地分别研究材料中每一类
原子周围的近邻情况 。XAFS 方法测量时只需要少量样品 ,
不需分离提纯 ,还可以做到无损分析 ,或在气氛保护下分析 ,
这对于催化剂 、金属蛋白酶 、生物大分子等领域的研究者无
疑非常便利 。
1 基本原理[ 1~4]
11 XAS 现象
当一束能量为 E 的 X 射线穿透物质时 ,它的强度会因
为物质的吸收而有所衰减 ,其透射强度 I 与入射强度 I 0 的
关系满足下式 :
μ( )
I = I 0 e - E d ( 1)
μ( )
式中 d 为物质厚度 ; E 为吸收系数, 其大小反映物质吸收
X 射线的能力 ,是 X 射线光子能量的函数 。图 1 给出了 Cr
( 图2 XAFS 实验谱图及 XANES - EXAFS 分区
的吸收系数随能量的变化 , 即 X 射线吸收谱 X - Ray Ab
sorption Spectroscop y) 。从图 1 可见 ,当 X 射线光子能量增加
到 570 eV 、580 eV 、680 eV 、5990 eV 左右时 ,吸收系数 μ会
产生跳变 ,这些跳变称为吸收边 。吸收边产生的原因是原子 ( )
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