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利用零漂移仪表放大器利用零漂移仪表放大器(IA)应对传感器测量的设计挑战(IA)应对传感器测量的设计挑战 利用零漂移仪表放大器利用零漂移仪表放大器(IA)(IA)应对传感器测量的设计挑战应对传感器测量的设计挑战 供稿：美信公司 摘要摘要：本文阐述了仪表放大器(IA)在传感器应用中的使用，重点讨论了系统设计所面临 摘要摘要 的挑战以及实施方案选择，介绍了一种新的集成电路 IA 架构，并列举了一些典型应用， 例如：比例桥、低端电流检测等。 传感器测量通常是将感兴趣的物理量转换成电子电路参数，如电阻和电容，然后再用桥 电路对这些参数进行读取。桥电路产生与温度、电源电压成比例的输出电压或电流信号， 从而使测量系统针对这些因素的变化进行补偿。常用的传感器包括： 用于温度检测的热敏电阻 用于压力检测的电阻/电容应变仪 用于方向/位置检测的磁阻传感器 可以直接产生信号电压或电流的传感器不需要用桥电路转换物理参数。这种传感器有： 热电偶、基于 ECG 的医疗仪器以及电源监测电路中测量检流电阻的电压等。 目前的传感器应用范围非常广泛，从消费类电子(温度计、压力计、GPS 系统等)到汽车 电子(燃油传感器、碰撞传感器、刹车线路传感器和车窗防夹控制等)、 工业和医疗仪 器(阀位检测、基于温度的系统校准和报警、ECG 等)。这些工作环境充满了 EMI 噪声、 电源谐波、地环路电流和 ESD 脉冲，而待提取的目标信 号却相对很小。因此，模拟传 感器接口变得非常复杂，必须在抑制这些环境干扰的同时精确保持规格要求。为确保产 品成功地投放市场，传感器必须具有低成本、小 尺寸以及低电流(针对电池供电的测量 设备)特性。 是否放大信号是否放大信号 是否放大信号是否放大信号 系统设计人员喜欢将模拟链路保持得尽可能短，希望以此提高信号对外部噪声的抗干扰 能力(数字电路通常对噪声不敏感)。传统设计中，较长的模拟链路要求后续 电路使用 特定的信号处理。例如一级电路提供差分增益，但没有共模抑制；另一级电路提供共模 抑制，但没有差分增益。双电源和高压摆幅有助于降低对模拟电路的 信噪比要求。较 短的模拟链路以及对单电源供电、低电压模拟摆幅的要求迫使人们开发创新的架构，应 对这些设计挑战。 在系统的设计之初就要考虑 ADC 和传感器之间是否可以直接连接。这种直接连接在某些 应用场合具有很大优势。有些应用中，这种直接连接能够节省空间和功耗。例如，高阻 比例桥可以采用内置基准的ADC，从而省去外部基准。 另一方面，可能需要使用仪表放大器(IA)连接传感器和ADC，原因是： 在靠近信号源的地方将小信号放大可以改善一些应用的总信噪比，特别是当传感器距离 ADC 较远时。 许多高性能 ADC 不具备高阻输入，需要通过一个低阻放大器驱动才能充分发挥其优势。 这种情况下如果没有中间放大器，输入电流尖峰和不匹配的源阻抗会导致较大的增益误 差。 外部放大器允许用户根据具体应用优化信号调理 (滤波)。 IA 提供的增益能够改善传感器与ADC 之间的连接，因为它不仅可以减轻系统设计压力， 还能降低总体系统成本。例如，读取一个未经放大的传感器信号要比读取放大后的传感 器信号需要更高的分辨率和昂贵的 ADC。 低失调带来的益处低失调带来的益处 低失调带来的益处低失调带来的益处 教科书中用大量的篇幅描述理想世界，公式推导中存在许多不确定因素，所有问题都用 一个答案解答。而为了得到一个工作的模拟电路在实验室进行的长时间调试更能说明真 实世界的状况，整个进程的里程碑可能恰好源于一次转折……。 使用 IA读取传感器信号时经常会遇到各种直流误差问题，主要根源是输入失调电压(VOS) 的影响。事实上，任何直流误差源都可以等效为VOS：直流 CMRR 代表直流 VOS 随输入共 模电压的变化，直流PSRR 代表直流 VOS 随电源电压的变化。 即使VOS 可以在生产过程中可以校准，与初始直流失调相比，也要更加关注VOS 的漂移 (随温度和时间变化)。这种漂移误差最好通过芯片内部的有源电路消除。 引起交流误差的重要根源是噪声，而噪声是半导体芯片设计和工艺所固有的。因为大多 数传感器信号被高增益模块所放大，以输入信号为参考的噪声也被同样的增益放大。噪 声有两种形式：粉色噪声(也称为1/f 或闪烁噪声)和白色噪声。粉色噪声主要集中