鉴别和校正氧质谱峰污染的方法.pdfVIP

维普资讯 北京大学学报 (自然科学版)，第26卷，第 2期，lo9o~ ActaSeientiarum Naturalium U㈣i r8itatlsPekinertsls，Vo1．26， № 2 (1990) 鉴别和校正氧质谱峰污染的方法 奠 志 超 (地质学系) 摘 要 本文推导出氧质谱峰高之间的关系和计算氧同位素丰度的公式。用这些公式可以鉴 别氧质谱峰是否被污染和计算得正确的峰高值。从而用这些公式可以计算得正确的氧同 位素丰度值。实验结果证明这些公式是正确可靠的。 关键词 质谱：质谱峰；氧同位素；同位素丰度 1．引 言 利用质谱计测量氧同位素丰度时，决定质谱铡量数据准确度的因素有：仪 器 的 固有常 数、受铡量值统计支配的误差和系统误差，它们包括本底、记忆效应、阀混、零富集、拖尾 和样 品有污染等。 正确的质谱是计算同位素丰度的关键。只有正确的质谱峰才能获得正确的测量结果。因 此鉴定质谱峰是否正确是非常重要的。本文提出一种鉴定质谱峰是否正确的新方法，即质谱 峰平衡法。从而用正确的质谱峰高可 以计算得正确的氧同位素的丰度。 2．计算 同位 素丰度 的公式 当用质谱计分析氧时、双原子的分子峰有： “o 分子产生 的质荷比为32的峰、 “0170分 子产生的质荷 比为33的峰、 O 0和”0分子产生的质荷比为34的峰、”O”0分子产生的质 荷比为35的峰以及”0 分子产生的质荷比为36的峰。 根据质谱峰产生的几率即 +y+z) x+y十 十2xy+2xz+2yz，可 以得出计算各质 谱峰高的公式。 I。：=I·x (1) I=I·2xy (2) I．=I·(2xz+y) (3) I=I·2yz (4) I。一I·z (5) 本文1988年l】月7日收瑚 维普资讯 北 京 大 毕 学 报 第26卷 式 中 x、 y和 z分 别为 “O、 “O 和 ”O 的手匿。 由公式 (1)可以获得计算 “O丰度的公式 一 (牛)’ (6) 同样可以获得计算 O和 O丰度的公式 (牛) (7) (鲁) (8) ， = (番 ) (9) 当样品比较高和 比较低富集 ”O 时，由 (3)式可以得到 (由于 《2xz) I。。= I ·2xz