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嵌入式技术
提高 内部 采样精度和范围的方法
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李 超 陈培锋
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华中科技大学 光电子科学与工程学院 湖北 武汉
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摘 要 一种提高 ?A51/3BC/D3E% 内部% ’ 采样精度和采样范围的方法 该方法解决了内部 % ’
的采样幅值为 的瓶颈 并采用 内部 的两个独立的模拟转换通道的排序
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与一般的单片机控制系统相比 数字信号处理器 * /#
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