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GaN基功率型微波双异质结构场效
应晶体管的技术发展
S.I.Petrov~,A.N.Alexeev1,D.M .Krasovitskyz,V.P.Chaly
(I.SemiTEq股份公司,俄罗斯圣彼得堡;
2.Svetlana—Rost股份公司,俄罗斯圣彼得堡)
摘 要 :有关结果表 明,在氨分子柬外延 STE3N2系统 中,以极高的温度 (1100—1150℃)让氮
化铝缓冲层进 行增长是为 DHFET(双异质 结构场效应 晶体管)通道 获得 高品质 GaN(氮化镓)
层的关键步骤。缓冲层从包含 A1N(氮化铝)、A1GaN/A1N(氮化铝镓 /氮化铝)超 晶格 与 A1GaN
(氮化铝镓)过渡层 的C.蓝宝石衬底开始排列。透射 电子显微镜 的研究表 明,穿透位错密度从
AlN层的(2-4)×10。cm。逐渐减少到顶部 GaN活动层的(9~10)×10cm。。结构质量 的改善
使得 电子迁移率大幅度增长至 600 650cmEN ·S,而在 一个 1.5 m 厚 、略含硅元素的GaN顶
层 中高达 3×l0~5×10 cm。。这些结果表 明生长于蓝宝石上 的金属有机气相沉积 GaN具有
良好 品质 ,并且 比传统的分子束外延好几倍 。在带有 AlxGa1 顶部 阻挡层 (=0.25—0.4)的双
异质结构 (DH)中使用这样一个 GaN层可以让二维电子气中的电子面密度 、迁移率与薄层 电阻
分别在 130041700cm2/V ·S、(1.0~1.8)×l0”cm 与 230~400Q/sq的范围内发生变化 。该技
术 的应用以及为了在 SiC(碳化硅)基板上生长而采用的DH设计使得我们可以为0.03~4.0GHz
的超宽频功率放大器 (输 出功率为2.5w、增益为 17~25dB、效率为 30%)制造 出一个带有 0.5Ixm
门信号宽度 的DHFET
关键词 :分子束外延 (MBE)系统 ;氮化铝 (AIN);氮化镓 (GaN);三族氮化物;双异质结构场效应
晶体管(DHFET)
中图分类号 :TN432 文献标识码 :A 文章编号2013)02.03—0017.05
TechnologyDevelopmentforGaN Based Power
M icrowaveDHFET
S.I.Petrov,A.N.Alexeev ,D.M .Krasovitsky2,V.P,Chalyz
(1.SemiTEqJSC,Saint-Petersburg,Russia;2.Svetlana—RostJSC,Saint-Petersburg,Russia)
Abstract:ThegrowthofA1Nbufferlayeratextremelyhightemperature(1l00~1150℃)inammonia
MBESTE3N2system isshowntobethekeysteptoobtainhil曲 qualityGaN layersforDHFET
收稿 日期 :2013.02.19
衄曩团困(?2Jg217期).⑨
channels.Thebufferlayersequencefrom c-sapphiresubstrateinvolvedA1N.AlGaN/A1N superlattice
andA1GaN transition layers.TEM study showed gradualdecreaseofthreading dislocation density
rfom (2~4)×10mcm inA1Nto(9~10)×10cm。。inthetopGaNactivelayer.Theimprovement
ofstructuralqualityresultedinsubstantialincreaseinelectronmobiliyt upto600~650cmZ/V 。sina
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