纳米粒度和Zeta电位及分子量分析仪.pdfVIP

新一代 纳米粒度和Zeta电位及分子量分析仪 融合多项专利技术 挑战颗粒表征极限 持续革新与优化 再创全球纳米分析新标准 革新的多功能系统,轻松测量多种参数 颗粒大小及其分布 ? 动态光散射 ---马尔文NIBS专利及全面优化的背散射技术 ?检测更大散射体积,配合顶尖军品级APD检测器,成就全球最高灵敏度的光散射仪Zetasizer Nano ?可准确检测40%以上高浓度样品的颗粒,并可最大程度避免多次光散射的影响 ?完全符合ISO13321及ISO 22412最新国际标准 ---新一代高速数字相关器?提供世界上最宽的动态测量范围,从此0.3nm - 10μm 粒径的检测成为现实 ---光路 ?独有的最新混合式超低损耗光纤技术,极大程度减少杂散光,提高信噪比 动态光散射原理 适用体系: 动态光散射检测由于颗粒布朗运动而产生的散射光的波 所有能够稳定存在于溶液中作布朗运动的颗粒。 动随时间的变化。 检测器将散射光信号转化为电流信号, 典型体系包括:乳液,有机/无机颗粒,自然/合成 再通过数字相关器的运算处理,得到颗粒在溶液中扩散 高分子溶液,表面活性剂,病毒,蛋白质样品等等。 的速度信息,即扩散系数。通过Stockes-Einstein方程 应用领域:生物、医药、纳米技术、涂层、化妆品 可以得到粒径大小及其分布。 领域、化工领域等等。 Zeta电位及其分布 ? 激光多普勒电泳+PALS+M3 ---马尔文专利新一代PALS+M3技术 ?基于第一代相分析光散射PALS而成功研制出的新一代专利技术 ?全面升级电泳光散射硬件,达到更高信噪比 ?全新的主动光调制技术结合不同的测试模式,使对于零或极低电泳迁移率的 Sl Sliip pp piin ng g p plla an ne e 粒子之Zeta电位检测达到前所未有的准确性和可重复性 带负电 带负电 带负电 带负电 ?M3专利技术的应用,成功解决了毛细管电渗对测试的影响,并且在一次测试 的粒子 的粒子 的粒子 的粒子 过程中同时得到Zeta电位平均值和分布曲线 ---马尔文专利技术设计的毛细管电泳池电极组件 ?真正意义地避免了不同样品间的交叉污染 - - 10 100 0 - - D Dif ifffu us se e llay ayer er ?抗腐蚀 S Su ur rffa ac ce e p po otte en nttiia al l ?最高可测40%浓度样品的Zeta电位 S Stte er rn n p po otte en nttiia al l m mV V Ze Zetta a p po otte en nttiia al l ?极低容量可达150微升 ---和MPT-2自动滴定仪连用 0 0 到颗粒表 到颗粒表面的距 面的距离 离 ?实现Zeta电位对pH,盐度和添加剂浓度变化趋势的自动化测量 测量原理 适用体系: 激光多普勒电泳利用检测样品散射光的微小频率 水相或有机相中稳定存在,或做缓慢沉降运动的颗粒。典型体系 移动得到带电颗粒电泳运动速度,利用Herry方 包括:金属、有机颗粒、蛋白质、聚电解质、无机氧化物、乳液、 程得到电位。 浆料、煤黑、油墨、炭黑等等。 St Ster ern n lay layer er 革新的多功能系统,轻松测量多种参数 分子量?静态光散射/动态光散射 14 -- 静态光散射 9.9KDa Polystyrene Standard 12 ?采用背测散射收集大分子散射,接收更多散射能量达到更高灵敏度 96KDa Polystyrene Standard 10 ?分子量下限980Da 8 6 -- 动态光散射 980KDa Polystyrene Standard 4 ?结合Mark-Houwink 经验方程,使得分子量测试快速,准确。 2 ?分子量下限342Da 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4 Concentration g/L 静态光散射原理 ? Debye 曲线 马尔文Nano ZS测量不同聚苯乙烯的分子量 静态光散射检测不同浓度下样品的绝对散射光强, 通过经典的Debye 曲线得到分子量Mw和第二维利 Mark ? Houwink 因子计算分子量 系数A2 : 通过动态光散射检测高 D kM 分子或者蛋白质样品的 w 扩散系数D ,进而通过 k T B DTS软件中的Mark- D 3 Houwink 公式得到重均 分子量Mw 。 7 k 和 α 是 Mark - Houwink 因子 检测范围在980 ? 2x10 Da 。此外还可以通过静态 光散射进行低聚体的识别,确定蛋白质的熔点和缔 D是扩散系数,Mw是重均分子量 合度。 与MPT-