SDRAM测试方法研究和实现.pdfVIP

2008 年 5 月 理论与方法 第 27 卷 　第 5 期 SD RAM 测试方法的研究和实现 赵雪莲1 ,2 　杨新涛1 ,2 ( 1. 北京自动测试技术研究所 　北京 　100088 ; 2 . 北京集诚泰思特测试技术有限公司 　北京 　100088) 摘 　要 :SDRA M 与其它存储器相比,具有速度快 、容量大 、价格低 、集成度高的优势 ;然而 , SDRA M 的测试却是一大难题 。针 对国内用户测试该类集成电路困难的现状 ,本文旨在研究 SDRA M 及相关测试理论 ,并以 H Y57V281620 为例 ,实现了在国产 A T E 上 SDRA M 测试程序的开发 。通过验证 ,该方法可以很好的解决长期以来 SDRA M 入库测试难的问题 。 关键词 : 算法图形产生器 ;测试向量 ; 自动测试仪 ; SDRA M 中图分类号 : TP274 . 5 　　文献标识码 :A Research and implementation of SD RAM test method Zhao Xuelian1 ,2 　Yang Xint ao1 ,2 ( 1. Beij ing In stit ut e of Automatic Te st Technology , Beij ing 100088 ; 2 . Beij ing J icheng Taisit e Technolop y Limit ed Cor . , Beij ing 100088) Abstract : SDRA M ha s t he advant ages of high sp eed , lar ge cap acit y , low p rice and high int egration ; However , SDRA M t e sting i s somewhat difficult ba sed on domestic A T Es . In con sideration of t he p re sent sit uation t hat t he do mestic u ser s have so me p roblem s on t he SDRA M t e sting , t hi s p ap er di scu sse s t he SDRA M t heory and re searched relat ed t e sting i s sue s . Take t he H Y57V281620 a s an example , it develop e s t he t est p rogram on domestic A T E , wit h t he verification of exp eriment s , t hi s met ho d i s p roved to have solved t he SDRA M t e sting i ssue s very well . Keywords : A P G ;t e st vector ;A T E ; SDRA M 测试仪 、丰富的测试经验积累以及先进的测试技术是保证 0 　引　言 和促进 SDRA M 性能、质量的关键因素 。在国内,尽管我