基于MAP-200的插损回损测试解决方案.pdfVIP

通讯测试及测量解决方案 基于 MAP-200 的插损/回损测试解决方案 PCT 应用环境下的 mORL/mIL 主要优点 • 使生产效率增加 4 倍 • 只需要其他解决方案所需空间的 25% • 可扩展至高成长性、高性能新应用，例如 40/100 G 数据中心市场 • 模块化平台可根据需要在预算允许范围内扩展 • 通过端口映射在 15 秒以内验证多光纤 MPO 模块的 连续性和极性 • 完全支持高成长性 MPO 和 MTP 多光纤连接器 应用 光连接解决方案（光连接器、结构化布线、分路器及其机壳）对于连接密 •对光连接器和光缆组件、结构化 集型中心局、数据中心和光分配网络至关重要。在远程通信、数据通信、 布线解决方案和光分路器的插损/ 无线回传和 FTTx 之外，在海洋、航空电子和军事应用继续大幅增加的同 回损/长度进行测试 时，新式超级计算应用也在不断涌现。所有这些市场都是由更高的带宽要 求推动的。出于必要，市场上不断推出新的连接器规格，这是由降低安装 •对多光纤组件（例如 MPO ）进行 成本、加快部署的需求推动的。 自动测试 •单模和多模光纤设备解决方案 但这些连接点的质量和光性能往往被忽视。插损和和回损（IL 和 RL ）不佳 可能会对网络性能造成深远影响。性能不佳会直接影响接入和可靠性，甚 •对大型多光纤组件的连续性和极 至会阻碍技术升级之路。同时，经济因素也要求制造商继续降低成本、加 性进行验证 快生产并缩短上市时间。 •测量线卡和插口式收发器的 RL 安全特征 MAP-200 机框中安装的 MAP mORL-A1 和 MAP mIL-A2 模块 符合 CE 、CSA/UL/IEC61010-1 和 LXI C 级要求 网站：/test 基于 MAP-200 的插损/回损测试解决方案 2 JDSU 无源器件/连接器测试解决方案（PCT ）由一系列强大的模块、软件和 外设组成，用于对光连接产品的插损、回损、物理长度和极性进行测试。凭 借 JDSU MAP-200 平台的模块性和连通性，可针对研发、生产或鉴定测试环 境对PCT进行配置，从而应对从单模到 OM1 和 OM4 的所有主要光纤类型。 以下各节将论述： •核心测量模块（同时适用于单模和多模） •软件和应用框架 •MPO 和多光纤测试配置