不同应用条件下最佳绝缘子构型.pdfVIP

第 24卷第 4期 强 激 光 与 粒 子 束 Vo1．24，NO．4 2012年 4月 HIGH POW ER LASER AND PARTICIE BEAMS Apr．，2012 文章编号 ： 1001—4322(2012)04—0806—03 不 同应用条件下最佳绝缘子构型 徐 乐 ， 王 勐 ， 杨 尊。， 刘 瑜 ， 李 逢 (1．清华大学 工程物理系 ，北京 100084； 2．中国工程物理研究院 流体物理研究所 ，四JIl绵 阳 621900) 摘 要 ： 绝缘子的沿面闪络制约着脉冲功率系统 向高 电压、大 电流方向发展 ，总结了几种实际应用条件 下的最佳绝缘子构型，并对不同角度下绝缘子表面的带电情况进行了分析。结果表 明，表面电荷对不同绝缘子 构型的性能起着至关重要 的作用 ，需要根据不同的应用条件来开展实验研究以确定最佳的绝缘子构型。 关键词 ： 沿面 闪络 ； 绝缘子构型； 表面 电荷 ； 脉冲电压 ； 直流电压 中图分类号 ： TM854 文献标志码 ： A doi：10．3788／HPLP0806 随着脉冲功率技术的发展 ，脉冲功率设备的输出电压等级越来越高 、电流强度越来越大、脉冲速度越来越 快 ，这对装置的绝缘性能提出了新的要求。实践表明，材料 的绝缘水平 已经成为制约脉冲功率技术高电压 、大 + 电流和小型化发展应用的主要因素之一。在由气体 、液体或真空与固体介质构成 的复合并联绝缘系统中，其绝 缘性能往往受到沿固体介质表面沿面闪络现象的制约，因为发生闪络时施加 电场的强度往往远低于 固体绝缘 [==U ～ 材料本身和氛围本身的耐电强度，尤其以真空一固体绝缘系统的影响最为严重 。自20世纪五六十年代发现该 现象以来 ，引发了大量关于沿面闪络机理和影响因素的研究 ，先后提出了多种理论模 型，并总结了许多影响沿 面闪络性能的有用的规律性结论。在沿面闪络众多的影响因素中，影响较大的是绝缘子构型。因此 ，本文针对 绝缘子构型结合绝缘子表面带 电的情况进行分析 ，从而解释不同应用条件下的最佳绝缘子构型有所不同。 1 绝缘子构型对 闪络性能的影响 绝缘子构型对 闪络特性有非常大的影响， 图 1列}{I了典型的绝缘子构型_l1]。常采用 的圆 锥形绝缘子的锥角 (正锥角定义为圆台底部为 0 阴极，负锥角则圆台底部为阳极)与闪络电压有 positive negative COnVeX 着密切关系，一般对于 ns级 电压脉冲来说 ，正 C0n e COne Cy1inder 锥角的绝缘子闪络电压最高 ，应用最多 、较易加 工的圆柱形绝缘体所承受的沿面闪络电压并不 是最高的，相反还是比较低的，微小负角的圆锥 0 墨 口 绝缘子性能最差 。根据二次 电子发射雪崩模型 concave wedged corrugated cy1inder cy1urder cylinder cyllnder withinserts (SEEA)可以解释以上的结论 。对于正锥角的 Fig．1 Typicalgeometriesofinsulator 绝缘子 ，阴极三相点发射 的初始 电子由于受力 图1 典型的绝缘子构型 方向远离绝缘子表面，绝大多数 电子无法参与 绝缘体表面二次 电子发射过程 ，从而不利于二次电子