基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案.pdfVIP

第 】2期 电 子 学 报 V01．36 No．12 2008年 12月 ACrAELECrR0NICASINICA Dec． 2oo8 基于 RAS结构优化测试时间和 数据量的测试方案 梁华国，祝沈财，陈 田，张 念 (合肥工业大学计算机 与信息学院，安徽合肥 230009) 摘 要： 大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大，测试时间长等问题．对此，本文提出了一种带 有折叠集的完全测试方案．该方案利用RAS(RandomacceSSscan)结构控制经输入精简的扫描单元，先生成若干折叠集 检测电路中大部分的故障，然后直接控制扫描单元生成剩余故障的测试向量．本方案生成的折叠集故障检测率高，所 需控制数据少．实验数据表明与同类方法相比，本方案能有效减少测试数据量和测试时间． 关键词： 输入精简；折叠计数器；数据压缩；随机访问扫描 中图分类号： TP306．2 文献标识码： A 文章编号 ： 0372—2112(2008)12—2418—05 ATestSchemeBasedOI3RASStructureto ReducedTestVolumeandTime HANGHua-guo，ZHU Shen·cai，CHEN Tian，ZHANGNian (SchoolofComputerandInformation，HefeiUniversityof~chnology，Hefei，Ardtui230009，China) Abstract： Thel1i曲densityandlarge-scaleICmeetslotsofproblemsdtmngtest，suchaShugeamountoftestdata，longtest timenadSOon．Thispaperpresentsafulltestcshemebyusingfoldingtestsets Firstlyseveralfoldingtestests aregeneratedbyrna— dom accessSCna structureincsancellswhicharegroupeclbyinputreductiontechnologytOdetectmostofthefaultsni c~cmtunder test．Thenadtani CSna ceHsalemodifide directlyt0providetestpatternsfortheremainingfaults．Th efoldingtestsetsareefficient ni detcetingfaults nadhteyneedlesscontrolinfonmtion．Experimentresultsshow thatithasshortertesttimenadhighertestdaat compressionratiocomparingwithothercshemasbasedO13RAS． Keywords： niputrdeuction；foldingcounter；adtacompression；rnadom accessCSan 效的降低了测试功耗和测试时间．上述方法不能同时解 1 引言 决测试中遇到的三个问题 ，并且一个问题的解决往往是 随着集成电路系统复杂度增加，特别是片上系统 以加剧另一个 问题为代价的． (System—on—aChip，soc)的出现，集成 电路测试面临越来 文献[3，4]提出了基于RAS结构的并行测试方法． 越多的