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摘要
摘要
巨磁电阻材料在高密度记录读出磁头、磁传感器(霍尔探测器、超微磁场探
测器等)、巨磁电阻随机存储器(MRAM)、无接触磁控元件、自旋晶体管、磁光信
息存储、汽车、数控机床、自动控制系统自动测量、卫星定位、导航系统、家
用电器、商标识别、磁性丌关等方面有着广阔的应用前景。出于高频应用的考
虑,本论文研究了Fe—M一0中Fe(Co)-A1(Zr)-0系列颗粒薄膜TMR材料。
本论文共分为六章,工作主要内容为:
综述了巨磁电阻效应各种体系与研究中的现状与问题。采用玻璃和Si(100)
等做基板,利用射频磁控溅射法制备了系列Fe(Co)一A1(Zr)一0颗粒薄膜样品,
并对其在真空中于不同温度下进行了退火处理,样品的表面形貌和微观结构经
4000
过透射电子显微镜(TEM)(JEOLEX)、选区电子衍射(SAD)和X射线衍射
(Rigaku
线光电子能谱(XPS)分析。磁性质和磁电阻性质分别使用振动样品磁强计、磁
导计等和标准直流四探针方法运行测量。从结构与工艺危度研究探讨了磁性与
磁电阻性能问题,对于材料设计与应用提出了新的结构与性能理念,即通过材
料性能的研究术选择结构与工艺,这种初步探索对材料的应用和新的材料测
量与设计观念的构建很有裨益。
研究了溅射输入功率剥‘Fe—Al—O膜磁性等性能的影响。以溅射输入功率4.9
kG(Guass),有
W/cm:沉积获得的纳米晶Fe刚.Al㈦O圳膜饱和磁化(4兀Ms)为19.6
效磁导率u洲在100
于高密度记录磁头。
薄膜中,只有含Al的薄膜中在有限的0:流量比的范围内有软磁性;在\基薄膜中,
不只含A1的薄膜有软磁性,而且含Si的薄膜也有软磁性,而且N浓度可以在较
宽的范围内变化,大于O基的薄膜。O含量在30—50at.%的Co惦A1。;一0薄膜中可观
at.%
察到清晰的颗粒状结构,粒子尺寸的分布相对比较窄,观察到0含量超过50
的簿脱中包含氧化物4:日。在0和N系统Co一(N或O)薄膜中p值的不同,可以
归于它们形貌特征的不同和两个系统的晶粒间组成不同。观察到Co—A1—0颗
0.一A1一(N或0)
粒膜的电阻率随0:流量比的增加有两个增加阶段。呈现软磁性的C
摘要
薄膜完全出沿(111)择优取向的fcc相组成,这时的各向异性能最低。结果显
示Co—AI一0软磁性薄膜高的P
SDBs和H。值有利于改善u-fnl;J应特性。另外一
种有效改良u—f111jJ应特性的方法是热处理。
到FeCoA]0薄膜晶粒具有形状各向异性,晶粒的长轴方向和短轴方向长度分别
nm一30
Fin]和5nm一15
为15 nm不等。B—H曲线上得到的难轴各向异性场H。。约为
200e。难轴矫顽力Hc。小于1Oe,倾斜角在±3度。这说明FeCoAIO溅射膜在
基片上磁各向异性的离散性很低,均匀性好。用直径为3nm的电子束进行X射
线能量散射谱(EDS)分析,FeCoAlO溅射颗粒膜磁性各向异性不是起因于磁性颗
粒之间的各向异性耦合,起因于形状各向异性。300。C退火后FeCoAIO溅射颗粒
GHz
膜软磁性能无退化现象。FeCoAIO溅射膜的频率响应曲线证实从10MHz到l
复磁导率实部“’大于i000,抗腐蚀性能好,好的温度稳定性使其能够经受磁
头制作处理工艺,可适用于高密度存储上的高速写磁头。
(Fe仉荫Co..:鬲)㈨Zr。0:;颗粒膜退火后由谢乐公式计算可以看到与(Fem幅Co.,.:晴)。。0.
膜相比应力释放较小。这是由于(Fe饥∞Com%)!坩0.膜沉积时氧化物颗粒溶解在Q
释放出内应力。而对(Fe仉∞Com娟)Ⅲ,Zr。O::膜,锆原子吸引Q—F
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