2第二章 原子吸收光谱分析.pptVIP

原子吸收仪器（1）—瓦里安Spectr AA系列 原子吸收仪器（2） —瓦里安SpectrAA 燃烧器 1.2 标准加入法 (1) 雾化器和燃烧器。 主要缺点：雾化效率低。 1）火焰原子化器 （2）火焰 试样雾滴在火焰中，经蒸发，干燥，离解（还原）等过程产生大量基态原子。 火焰温度的选择： （a）保证待测元素充分离解为基态原子的前提下，尽量采用低温火焰； （b）火焰温度越高，产生的热激发态原子越多； （c）火焰温度取决于燃气与助燃气类型，常用空气—乙炔最高温度2600K能测35种元素。 火焰类型： 化学计量火焰： 温度高，干扰少，稳定，背景低，常用。 富燃火焰： 还原性火焰，燃烧不完全，测定较易形成难熔氧化物的元素Mo、Cr稀土等。 贫燃火焰： 火焰温度低，氧化性气氛，适用于碱金属测定。 用于原子吸收光谱分析的火焰 2）非火焰原子化器 （1）结构 外气路中Ar气体沿石墨管外壁流动，冷却保护石墨管；内气路中Ar气体由管两端流向管中心，从中心孔流出，用来保护原子不被氧化，同时排除干燥和灰化过程中产生的蒸汽。 （2）原子化过程 干燥（Dry） 灰化（Ash） 原子化（Atomize） 温度 时间 高温灼烧 Clean Out 冷却 Cool Down 将样品加入到石墨管中 干燥过程 固体沉积物 气流 小液滴t 溶剂 稍高于溶剂沸点干燥 (80-200oC) 溶剂蒸发，在石墨管内留下一层薄膜 灰化阶段 气流 分解剩下的残留物 固体沉积物 基体 (烟) 在一个较高温度(350～1600oC)将基体赶走 但一定不能损失分析物 剩下难熔的化合物如氧化物 原子化阶段 原子云 分解残留物 气流停止 石墨炉被快速加热 (1000o-2000oC/sec) 残留物挥发，在光路中成为基态原子云 (1800-3000 oC) （3）优缺点 优点：样品利用率高，试样用量少（1-100μL），可测固体及粘稠试样。 缺点：精密度差，测定速度慢，操作不够简便，装置复杂。 1.3 分光系统 作用 将待测元素的共振线与邻近线分开。 组件 色散元件（棱镜、光栅），凹凸镜、狭缝等。 单色器性能参数 （1）线色散率(D) 两条谱线间的距离与波长差的比值ΔX/Δλ。实际工作中常用其倒数 Δλ/ΔX （2）分辨率 仪器分开相邻两条谱线的能力。用该两条谱线的平均波长与其波长差的比值λ/Δλ表示。 （3）通带宽度(W) 指通过单色器出射狭缝的谱带宽度。当倒线色散率(D)一定时，可通过选择狭缝宽度(S)来确定：W=D?S 1.4 检测系统 主要由检测器、放大器、读数装置组成。 1.检测器-------- 将单色器分出的光信号转变成电信号。 如：光电池、光电倍增管、光敏晶体管等。 2.放大器------将光电倍增管输出的较弱信号，经电子线路进一步放大。 3.读数装置------表头、数字显示器和记录器。 新仪器配置：原子吸收计算机工作站 2 仪器类型 单道单光束型 单道双光束型 双道双光束型 第四节 原子吸收光谱分析中的干扰及其消除 1 光谱干扰 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和仪器的分辩率，主要有以下几种： 1）具有复杂光谱的元素发射单色器不能完全分开的谱线 2）空心阴极灯阴极材料中的杂质在分析线近旁发生单色器不能完全分开的谱线。 换用纯度较高的单元素灯减小干扰。 （1）吸收线与相邻谱线不能完全分开所造成的光谱干扰 3）使用多元素空心阴极灯时，其他元素在分析线近旁发射单色器不能分开的谱线。 4）空心阴极灯内充入的气体发射的谱线的干扰 5）灯的辐射中有连续背景辐射。 用较小通带或更换灯 （2）待测元素的分析线与共存元素的吸收线相重叠引起的干扰 这种干扰使吸光度增加，造成正误差。 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。 1） 分子吸收与光散射 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的散射现象。 2 背景干扰 2）背景干扰校正方法 (3) 氘灯连续光谱背景校正 (1) 用非吸收线扣背景 (2) 配制不含待测元素的基体溶液 (4)塞曼(Zeeman)效应背景校正法 3 化学干扰 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1） 化学干扰的类型 （1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物 例：a、钴、硅