N掺杂SiC纳米线的制备、场发射性能及第一性原理计算.pdfVIP

N掺杂SiC纳米线的制备、场发射性能及第一性原理计算.pdf

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第 34卷 第 4期 青 岛科 技 大 学 学 报 (自然科学版) Vo1.34No.4 2013年 8月 JournalofQingdaoUniversityofScienceandTechnology(NaturalScienceEdition) Aug.2013 文章编号 :1672—6987(2013)04—0336—06 N掺杂 SiC纳米线的制备、场发射性能及 第一性原理计算 孙莎莎 ,李镇江 ,李伟东 ,齐学礼 (青岛科 技大学 机电工程学 院,山东 青岛 266061) 摘 要:利用简单的化学气相沉积法,首次以固态三聚氰胺 (C。H N。)为N掺杂剂,与 si/ Si02粉体混合 ,在 1250oC下保温 25min,制备 出N掺杂SiC纳米线。采用XRD、SEM、 元素分析等测试手段对产物的物相和微观形貌进行 了表征 ,并对其场发射性 能进行 了研 究,采用基于密度泛函理论 (DFT)的第一性原理对N掺杂前后 SiC纳米线的电子结构进 行了计算。结果表 明:掺 N后的纳米线弯曲程度明显变大,场发射性能显著提高,开启电场 值和阈值 电场值 由原来的3.5V ·I上m 和 6.6V ·m 分别降低为 2.6V ·m 和 5.5V · Fmf。。此外,第一性原理计算表明,掺 N后的纳米线禁带宽度明显变窄,使电子从价带向导带 过渡时需要更少的能量 ,从理论上解释 了N掺杂 SiC纳米线场发射性能增强的原因。 关键词:SiC纳米线;场发射 ;第一性原理 ;密度泛函理论 中图分类号 :O462.4:O471.5 文献标志码 :A Preparation,FieldEmissionPropertyandFirst。principle CalculationonElectronicStructureofN_dopedSiC Nanowires SUNSha—sha,LIZhen-jiang,LIWei—dong,QIXue—li (CollegeofElectromechanicalEngineering,QingdaoUniversityofScienceandTechnology,Qingdao266061。China) Abstract:N—dopedSiC nanowireswere firstlypreparated by chemicalvaporreaction method,whichusedsolidmelamine(C3H6N6)astheN dopant,mixingwithSi/SiO2 powdershearting25minatthetemperatureof1250℃ .Thecrystalstructureandmor— phologyoftheproductswerecharacterizedbyX—raydiffraction (XRD)、scanning elec— tronmicroscopy (SEM )andelementanalysis.Thefieldemission propertyoftheprod— uctswas also tested, and the electronic structures of un—doped and N—doped SiC nanowireswerecalculatedviafirst—principleonthebasisofthedensityfunctionaltheory (DFT).Resultsshow thatthebendingdegreeoftheN—dopedSiC nanowiresisbigger and it exhibits enhanced field emission activity comparing with the un—doped SiC nanowires,theturn—onfielddecreasedfrom 3.5V ·um— to2.6V ·um— andthresh— oldfiel

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