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第四届海峡两岸土壤及地下水污染与整治研讨会
薄膜介面探测器庶用於三氯乙烯污染埸址
之污染侦测黢卺研究
黄德坤2
林耿立1李芷俄1蔡文贤1榻瑞典1卓腕淇1
(1冠馘瑕境科技工程股份有限公司,俞南躲永康市中正二街567毓,台湾;
2台湾中油股份有限公司探探研究所,苗栗市文山里文披路谴豳I虢,台湾)
l攮要l薄膜介面探测器菊一现地直璧式即峙侦测工具,町同步侦测地下瑕境中之挥赣性有楼化合物赁
以及i摹鼋度之空简分布,已被魔泛虑用於挥袋性有横化合物污染十壤地下水之埸址蠲查。 红污染蠲查方
面,常晃舆薄膜介面探测器蓬结之挥骚性有横物侦测器包含光敲了化侦测器、火焰雕予化侦测器及鼋予
捕捉债测器,造些侦测器舆薄膜介面探测器篷结後可造行埸址污染物探测,鲦可快速猹取敷穗挥赣性有
樾物之绝和反虑数值,但未经鬓籍倦等榆测馐{{}}定性/定量分析,尚羝法鹎换成j鞋一物獯污染渡度瓷料,
故侦测结果往往遭受箕疑。 本研究以薄膜介面探测器j菩配雹子捕集侦测器,於受氯乙烯簸物耍污染之地
下水埸址。现地即峙侦测及敲地寅驻空量测雨獯方式,探封污染侦测系统之再现性及代表性。研究裴现薄
膜介面探测器搭配鼋子捕集侦测器封埸址主要污染物一三氯乙烯之反感最耦敏感。不臻在罩纯的寅黢室
僚件或{复雅的现埸僚件下,使测值舆傅统榆测结果之相喇保敷甲方值(R-squared)均可逵O.90以}二,且
渡度越高反臆敏感度也越高,颞示高污染埸址侦测结果之犟罐性越高。另由现地重覆测定颞示,薄膜介
面探测器搭配鼋子捕集侦测器之量测品黉具自.高度稳定性及冉现件。
嗍鬟祠l薄膜介面探测器;.挥簸件有横化含物;.鼋子捕集侦测器;地下水污染;.三氯乙烯
前言
interface
薄膜介面探测器(membraneprobe,镝稻MIP)系统丽骚至今,包括美圆聊邦瑗保署舆
美国圜防部、能源部等皆已具完整寅埸缀黢,其庚泛使用於各罩事基地之污染调查,以两元2000
AirStationNorth
年¨月於加州北部海岛的海空罩基地调查(Naval Island,Coronado,CA)羯例,
相同成果舆傅统之盛测井稠查做比较,使用MIP省下约美金38,000元,而畴同上,使用一般傅统方
Certification
法,也辫2年也艇法完成此目棵(EnviromentalSecurityTechnology Program,2005)。
EPA, DOE,
在污染蠲查方面,舆MIP遑结之常用捧谨性有橇物侦测器(US 199819】;US
2002[101;SDPRCE,2005),包含光雒子化侦测器(photo.ionizationdetector,PID)、火焰雕子
化侦测器(flame.ionizationdetector,FID)、及鼋子捕捉侦测器(electroncapture
遵结前述侦测器所测得的污染物渡度,皆耦氟憋德反虑渡度,封於镒定污染物之檀颓,及碓韶罩一
挥骚性有横化合物在地下瑕境之土壤/地下水中渡度,仍存有不碓定性,必须予以碓勰趁清。本研究
即以一受三氯乙烯颓挥赣性有楼化合物污染之地下水羯埸址,探封MIP遵j|l古ECD之现地即峙侦测
结果,舆地下水取檬送至寅驻室之化驻结果,造行嗣磷性之解析比较。
二、薄膜介面探测器
MIP乃利Hj褂载之可透氟靴渗水薄膜舆蔓檀式尊鼋度感测器(固1),现地即畴侦测地下瑗境
中非鲍和屠及鲍羽I含水居中之挥赣性有楼化合物及尊鼋度。将MIP直接贯入至地下,封接桶土壤、
土壤氯髓或地下水等地下瑕境介贸予以加熟。加熟温度控制於掇氏100至120度蔺,使遇圉之择袋
性有横化合物受熟脱附後氟鹘蒸骚渗透而造入薄膜内。利用循瑕行之戟氟,俘翰至地表上供侦测器
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第四月海#M岸±壤及地下水污橐々整泊研讨会
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