专用测试设备系统级校准功能的设计与实现.pdfVIP

务l 匐 化 专用测试设备系统级校准功能的设计与实现 Designand implementofsystem-levelcalibration functionforspeciaItestequipments 王 勇。，田 葳。，杨 雷 WANG 、，0ng’，TlANWei，、 NG Lei (1．河南科技大学 电气工程学院，洛阳471023；2．河南科技大学信息工程学院，洛阳471023) 摘 要：为解决常规校准只能针对部分核心部件进行，而难以对系统集成后设备整体进行校准的缺 点，基于最小二乘法一元线性回归分析理论 ，借助虚拟仪器设计软件LabWindows／CVl强大 的数据分析与处理功能，提出了一种专用测试设备系统级校准功能的实现方法。介绍了硬件 组成、最小二乘法原理、软件实现方式和校准过程。该设计已在多台专用测试设备中得到应 用，实验和实际运行效果均表明，显著提高了测试设备的测量精度。 关键词：校准；最小二乘法；测试设备；LabWlndows／OVl 中图分类号 ：TP23 文献标识码 ：A 文章编号：1009—0134(2014)06(上)一0095—03 Doi：10．3969／J．Issn．1009-0134．2014．06(I-)．28 0 引言 号需要进行线性衰减 。为了消除测试设备对待测 国防工业现代化建设中，专用测试设备大量 产品的干扰，往往要求测试过程 中二者之间进行 应用于军工 电子产 品的质量控制 、性能评价及功 电气隔离。信号调理 电路一方面能够对待测AI信 能验证，其准确与可靠性是判断和评价被测产 号进行线性衰减或放大，另一方面用于实现测试 品质量好坏的关键 。专用测试设备通常 由信号采 设备与待测产品之间的光电隔离。可见，在专用 集、信号调理与变换、显示等环节构成，而校准 设备中，数据采集卡的输入端一般并非直接与待 功能往往只针对各个环节 中的核心部件 (如 电 测产品的输 出端相连，而是经过信号调理电路转 源、数据采集卡、通信板卡等)单独进行。这样 接 。传统对AI信号的校准仅仅是对数据采集卡的 容易造成各分部件校准合格，但系统集成后累计误 校准，但是，由系统结构可以看 出，即使数据采 差难以估算，从而影响设备整体测试的准确性uJ。 集卡校准合格，而测试系统整体必然会因调理 电 基于最小二乘法原理和虚拟仪器测试技术，采用 路等的存在而引入其他系统误差 。因此 ，校准必 手、 自动结合的方式对专用测试设备进行系统级 须针对测试系统整体进行 ，如 图l所示，开关S接 校准是可行和必须 。 通B端，系统处于校准状态，从测试设备校准面板 1 系统级校准原理与组成 区的AI端子 ，分时输入一组标准信号，上位工控 在专用设备中，对模拟输入 (以