ESR膜及在POLAR探测器中的应用.pdfVIP

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第36卷第1期 光 学 技 术 V01.36No.1 2010年 1月 OPTICALTECHNIQUE Jan. 2010 文章编号 :1002—1582(2O1O)O1—0098—04 ESR膜及在POLAR探测器中的应用 蒋作宏 ,吴伯冰 ,李延 国 ,刘正坤。,董永伟 ,康士秀 (1.中国科学技术大学天文与应用物理系,合肥 230026) (2.中国科学院高能物理研究所 ,北京 100049) (3.中国科学技术大学 国家同步辐射实验室,合肥 230022) 摘 要:基于巨双折射光学的增强型镜面反射膜 (ESR)具有高分子多层膜结构。在 1O~8O。反射角范围内,利用 623.8nm,532nm,441.6nm和 4l3.1nm激光对 ESR的反射率进行了测量,结果显示 ,在整个范围内有较均匀的反射率, 平均反射率大于 95 ,平均透过率小于 0.5 。XRD分析显示 ESR在大尺度范围内有 良好的晶化结构。在 7射线极化 仪POIAR应用中,ESR作为BC448塑料闪烁体探测器反射层 比用黑漆反射层的光子收集效率提高了近 1O倍。 关 键 词:薄膜光学;双折射;反射率 ;塑料闪烁体;光子收集效率 中图分类号:O484;O572.11 文献标识码 :A ESR film andapplicationinPOLAR detector JIANG Zuo—hong ,WU Bo—bing ,LIYan—guo ,LIU Zheng—kun。,DONG Yong—wei。,KANG Shi-xiu (1.DepartmentofAstronomyandAppliedPhysics,UniversityofScienceandTechnologyofChina,Hefei 230026,China) (2.InstituteofHighEnergyPhysics,ChineseAcademyofSciences,Beijing 100049,China) (3.NationalSynchrotronRadiationLaboratory,Hefei 230022,China) Abstract:TheEnhancedSpecularReflector(ESR)basedongiantbirefringentopticsiscomposedwithpolymermate— rialsandhasmuhilayerstructures.Reflectancemeasurementsaredoneinthereflectionanglerangeof10。一 8O。utilizing lasersof632.8nm 。532nm ,441.6nm and413.1nm wavelength.Resultsshow thattherdlectanceiSnearlyuniform.The averagereflectanceishigherthan95 andtheaveragetransmissionislessthan0.5 atthewholeanglerange.X-ray diffractionanalysisexpressesitsgoodcrystalstructuresinalargescale.Asthereflectionfilm ofBC448plasticscintillator inPOLAR GammaRayPolarimeter,comparedtOthatwiththecovereddarkpaint,thephotocollectionefficiencyofthe detectorwiththeESR wrapis10timeshigher. Keywords:thinfilm optics;birefringent;reflectance;plasticscint

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