PHASICS波前探测器波前分析仪波前测试仪波前传感器.pdfVIP

PHASICS 波前探测器 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分 辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。 1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点) ◆消色差 ◆高动态范围 ◆高灵敏度 ◆操作简便 ◆设计简洁紧凑 ◆高性价比 2.技术优势 ◆高分辨率的相位图 能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160 ｘ120个采样点，最高分辨率可达400 ｘ300 。 高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力 我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下 图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管 有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75 ），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡 镜就能测试。 准直镜 测试条件下光路系统 SID4 探测器 光源