循环电场下钙钛矿铁电薄膜的极化疲劳机制.pdfVIP

第38卷 第6期 人 工 晶 体 学 报 Vo1．38 No．6 2009年 12月 JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTAI_S December，2009 循环 电场下钙钛矿铁电薄膜的极化疲劳机制 宁平凡，崔彩娥，黄 平，康爱国，郝虎在 (太原理工大学理学院，太原 030024) 摘要：将循环电场引起电荷注入并产生局部相分解的理论引入到氧空位模型中，建立 了一个解析形式 的钙钛矿结 构铁电薄膜极化疲劳模型。结合该模型讨论了铁电薄膜与金属电极间的低介电常数界面层对疲劳特性的影响，认 为界面层对疲劳的产生起关键作用。运用该模型分析了不同松弛时间、电压、温度下的疲劳特性 ，并与已报道的实 验结果进行了对 比，模型计算结果与实验数据具有很好的一致性。 关键词：极化疲劳；铁 电薄膜；氧空位 ；电荷注入 中图分类号 ：0484 文献标识码：A 文章编号 ：1000—985X(2009)06·1511-05 PolarizationFatigueM echanism ofthePerovskiteFerroelectric ThinFilmsunderCyclicElectricField NINGP fan，CUICai-e，HUANGP凡g，KANGAi-guo，HAOHuz·ai (CollegeofScience。TaiyuanUniversityofTechnology，Taiyuan030024，China) (Received19January2009，accepted10Apr／l2009) Abstract：An analyticalmodelforthepolarization fatigueundercyclic electricfieldoftheperovskite ferroelectricthinfilmswasproposedbyincorporatingtheswitch--inducedcharge·i·njectionmechanismand thelocalphasedecompositiontheoryintotheoxygenvacancyelectromigrationmode1．Theeffectsofthe low permittivityinterfaciallayeronthefatiug epropertywereanalyzedwiththismode1．Theresultsshowed thattheinterfaciallayerisancrucialreasonofrpolarizationfatigueinferroelectricthinfilms．Themodel caneasilysimulatethefatiugebehaviorofvariousferroelectricthinfilmsunderdifferentrelaxationtimes， voltages，andtemperatures． Keywords：polarizationfatiuge；ferroelectricthinfilms；oxygenvacancies；chargeinjection 1 引 言 铁 电材料由于在非挥发性存储器方面有着广阔的应用前景，因此受到了研究者的广泛重视 。铁电 存储器在工作的过程中铁电存储单元不断地进行极化翻转，随着谚写次数的增加铁电单元的极化强度会逐 渐减小，最终致使以正、负极化状态存储的信息丢失，这个过程就是极化疲劳。极化疲劳是导致铁电存储器 失效的重要因素，严重阻碍了铁电存储器的商业化应用。 极化疲劳是由多方面因素共同参与的复杂过程，与铁 电材料、电极材料以及二者的界面都有很大关系， 收稿 日期：2009-01-19；修订 日期：2009-04—1