便携式X射线荧光光谱仪应用条件试验及效果16825.pdfVIP

　第３４卷第４期 物　探　与　化　探 Ｖｏｌ．３４，Ｎｏ．４　 　２０１０年８月 ＧＥＯＰＨＹＳＩＣＡＬ＆ＧＥＯＣＨＥＭＩＣＡＬＥＸＰＬＯＲＡＴＩＯＮ Ａｕｇ．，２０１０　 便携式Ｘ射线荧光光谱仪应用条件试验及效果 钱建平，吴高海，陈宏毅 （桂林理工大学地球科学学院，广西桂林　５４１００４） 摘 要：利用ＩＥＤ２０００Ｐ型便携式Ｘ射线荧光光谱仪，选择安徽绩溪荆州银多金属矿矿区进行找矿条件试验。试验 中分别就不同测点密度、基岩与土壤测量、不同湿度条件、基岩与岩石粉末样测量进行了对比研究，确定了最佳的 应用条件。即：确定测点密度应综合考虑异常体规模和实际工作量因素；基岩Ｘ荧光光谱测量较之土壤测量更能 客观地反映地质体的异常特征；湿度因素不会影响异常的存在，但会降低异常的强度；岩石粉末样Ｘ荧光光谱测量 较之岩石样测量值更具有代表性。Ｘ荧光光谱测量法与化探原生晕取样分析对比研究和相关分析表明，应用Ｘ荧 光光谱法进行找矿研究不失为一种方便快捷和行之有效的找矿方法。 关键词：便携式Ｘ射线荧光光谱仪；应用条件试验；岩石粉末样测量；银多金属矿 中图分类号：Ｐ６３２　　　文献标识码：Ａ　　　文章编号：１０００－８９１８（２０１０）０４－０４９７－０６ 　　Ｘ射线荧光光谱法具有不破坏样品，准确度高， 以来，便携式ＸＲＦ的发展方向发生了重大的变化， 分析速度快，能测定固体、粉末和液体样品，能适用 大幅提高分辨率成为发展这类仪器的主要目标，出 于常量和微量元素测定等主要优点，因此引起人们 现了ＳｉＰＩＮ半导体探测器便携式ＸＲＦ分析仪和小 ［１－５］ ［６］ 广泛的重视 。Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）分析又称 Ｘ 型的波长色散 Ｘ射线光谱仪 。新一代手提式 Ｘ 射线次级发射光谱分析，是利用原级Ｘ射线光子或 射线荧光仪采用ＳｉＰＩＮ半导体探测器，能够分辨中 其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次 等原子序数以上相邻元素的Ｋ系特征Ｘ射线的特 级的特征Ｘ射线（Ｘ光荧光）而进行物质成分分析 征峰，可以准确获取目标元素及其干扰元素特征峰 和化学态研究的方法。不同元素具有波长不同的特 的峰面积，这为干扰元素基体效应的有效校正提供 征Ｘ射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度 了保证。 呈一定关系，测定待测元素特征Ｘ射线谱线的波长 本次实验研究采用的仪器是由成都理工大学 和强度就可以进行定性和定量分析。 ２０世纪９０年代末期研制出的ＳｉＰＩＮ半导体探测器 用于日常分析的ＸＲＦ仪器主要有波长色散谱 便携式ＸＲＦ分析仪，即ＩＥＤ２０００Ｐ型手提式多元素 ［６］ 仪、能量色散谱仪和非色散便携式谱仪。波长色散 Ｘ射线荧光光谱仪 。ＩＥＤ２０００Ｐ型Ｘ射线荧光光 Ｘ射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据 Ｂｒａｇｇ 谱仪是同位素源激发 Ｘ射线荧光仪，工作时，同位 ２３８ 定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量；能量色 素 激发源（ Ｐｕ，４５．００ｋｅＶ，２４１Ａｍ，５９．５６ｋｅＶ） γ 散Ｘ射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能 发出的 射线辐照待测样品，样品受激发发出特征 γ 量的脉冲分开并测量；非色散谱仪不是采用将不同 Ｘ射线（即Ｘ荧光