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光谱分析法 目录 光谱分析法的分类 等离子体发射光谱的原理 等离子体发射光谱的仪器构造 引论 光的基本性质 引论 光的基本性质 引论 光学分析法是根据物质发射的电磁辐射或电磁辐射与物质相互作用而建立起来的一类分析化学方法。 光谱分析法的分类 原子发射光谱法 AES：是将试样用热或电能激发，然后测量被激发试样所发射的光辐射。根据它发射的谱线的波长可以进行定性分析，测量谱线的强度可以进行定量分析。 基态：在正常的情况下，原子处于稳定状态，能量最低的状态。 激发态：原子由于与高速运动的气态粒子和电子相互碰撞而获得了能量，使原子外层的电子从基态跃迁到更高的能级上的这种状态。 原子发射光谱法 激发态的原子十分不稳定，极短时间内（约为10-8s）便跃迁到基态或其他较低的能级上，释放能量： E2高能级的能量，E1低能级的能量，c光速 h普朗克常数，ν、λ所发射电磁波频率与波长 根据选择规则和可能的激发态，周期表内每个元素都能显示一具特征性和专一性的线光谱，这就是元素定性分析的依据。 原子发射光谱法 定性分析 依据元素原子特征光谱(每种元素均有特定的原子光谱) 灵敏线: 在原子光谱中激发电位低或易于激发 的谱线（跃迁几率大的谱线）。若有2条以上灵敏线存在（只要试样光谱中检出了某元素2~3条灵敏线, 就可以确证试样中存在该元素）可以认为样品存在该元素。 最后线：当含量减少时，谱线数目也减少,剩下最后的几条谱线叫最后线（最灵敏谱线）。 原子发射光谱法 定量分析 根据被测试样光谱中欲测元素的谱线强度来确定元素浓度。 罗马金公式：I=acb 常数a是与试样的蒸发，激发过程和试样组成等有关的一个参数。常数b, 称为自吸系数，它的数值与谱线的自吸收有关。 内标法：常用，加入固定量已知浓度的内标元素作为标准的相对强度测量。 原子发射光谱法 原子发射光谱仪 将光源发射的电磁辐射经色散后，得到按波长顺序排列的光谱，并对不同波长的辐射进行检测与记录。 原子吸收光谱法 利用物质的气态原子对特定波长的光的吸收来进行分析的方法。 原子吸收的过程：当适当波长的光通过含有基态原子的蒸气时，基态原子就可以吸收某些波长的光而从基态被激发到激发态，从而产生原子吸收光谱。 原子吸收光谱法 原子吸收线的形状： K为吸收系数 γ为频率 原子吸收光谱法进行定量分析的理论基础： A=KC A：吸光度，K：常数，C：待测浓度 原子吸收光谱法 原子分光光度计由光源、原子化系统、分光系统及检测显示系统四个部分构成。 原子吸收光谱法 光源 需测量的是原子的峰值吸收。为了测定K0值，使用的光源必须是锐线光源。 锐线光源：光源发射线的中心频率与吸收线的中心频率一致，而且发射线的半宽度比吸收线的半宽度小得多时，则发射线光源叫做锐线光源。 如果用连续光源，则吸收的光的强度只占入射光强度的极小部分，使测定的灵敏度极差。 原子吸收光谱法 光源：空心阴极灯（一种气体放电管） 钨棒构成的阳极和一个圆柱形的空心阴极，空心阴极是由待测元素的纯金属或合金构成，或者由空穴内衬有待测元素的其它金属构成。 工作过程：高压直流电（300V）---阴极电子---撞击隋性原子---电离(二次电子维持放电)---正离子---轰击阴击---待测原子溅射----聚集空心阴极内被激发----待测元素特征共振发射线。 原子吸收光谱法 原子化器 将样品中待测组分转化为基态原子的装置。 1、火焰原子化器：利用气体燃烧形成的火焰来进行原子化的。 火焰的作用是将试液中的待测元素原子化。 原子吸收光谱法 非火焰原子化法：常用的非火焰原子化法主要有电热高温石墨管原子化法和化学原子化法。 原子吸收光谱法 原子化过程可分为四个阶段： 1、干燥：去除溶剂，防样品溅射； 2、灰化：使基体和有机物尽量挥发除去； 3、原子化：待测物化合物分解为基态原子，此时停止通 Ar，延长原子停留时间，提高灵敏度； 4、净化：样品测定完成，高温去残渣，净化石墨管。 原子荧光光谱法 原子荧光的产生：基态的原子蒸气吸收特定波长光辐射的能量而被激发到较高的激发态，然后受激原子去活化回到较低的激发态或基态时便发射出一定波长的辐射——原子荧光。 原子荧光光谱法 定量：测定原子荧光的强度即可求得待测样品中该元素的含量。 X射线荧光光谱法 当试样受到x射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在教外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线。 式中k,S是常数，所以只要测