基于JTAG的DSP调试系统的设计.pdfVIP

电 子 测 量 技 术 第32卷 第 5期 ELECTR0NIC MEASUREMENT TECHN0LoGY 2009年 5月 基于JTAG的DSP调试系统的设计 徐 宇杰 梁利平 (1．清华大学微电子与纳电子学系 北京 100084；2．中国科学院微电子研究所 北京 100029) 摘 要：JTAG标准 ，即IEEE1149．1标准，定义了一种国际通用的边界扫描结构和测试端 口访问规范。如今众多芯 片都兼容该标准。本文提出了一种基于JTAG的DSP调试系统的设计方案，支持断点，可观测 内部寄存器、存储器， 也可对存储器内容进行修改，对提高DSP开发效率有一定意义。 关键词：JTAG；DSP；调试系统 ；断点 中图分类号：TN407 文献标识码：A JTAG standard—basedDSPdebugsystem design XuYujie LiangLiping~ (1．InstituteofMicroelectronicsOfTsinghuaUniversity，Beijing100084； 2．InstituteofMicroelectronicsofChineseAcademyofSciences，Beijing100029) Abstract：JTAGstandardistheIEEE1149．1standard，itdefinedaninternationalgeneralboundary-scanarchitectureand testaccessport．Manychipscompliancewiththatstandar InthispaperwedesignedaJATG standard-basedDSP debugsystem，itsupportsbreakpoint，internalregistersandmemoriescanbewatched，thevaluesinmemoriescanalso bemodified．ThisdesignismeaningfulforincreasingDSPdesignefficiency． Keywords：JTAG；DSP；debugsystem；breakpoint 含 119个内部寄存器，每个寄存器长度为8位或 16位 。片 0 引 言 上存储器分 3块：一块 32k字的程序存储器 (PM)，一块 32 随着集成电路规模 的越来越大，结构越来越复杂，内 k字 的数据存储器 (DM)，一块 1k字 的 I／0存储器 部引脚越来越难以探测 ，以致测试变 的越来越困难 。针 (IOM)。其中程序存储器的字长为24位，其余存储器的字 对这些情况 ，联合测试行动组 (JointTestActionGroup， 长为 16位 。 JTAG)提出了一个被称为边界扫描 的方法 ，于 1990年被 对于存储器的观测和改写，一种方法是将存储器的输 IEEE采纳为 l149．1标准[1]，得到了世界上绝大多数集成 人输出端 口处都加上 JTAG扫描单元，串成扫描链，由 电路制造商和器件商的支持。如今，该标准提供的统一 JTAG控制输入捕获输出[4-53。 的测试访 问端 口，已成为众多芯片必不可少 的一种 “开 对于内部寄存器的观测 ，有多种方法，最简单 的是将 销”[。 每个要观测的内部寄存器都设计成扫描结构，串成一条或 数字信号处理器 (DSP)，由于其强大的数据处理能力 ， 多条扫描链，由JTAG指令来选取[6]，然后将数据移 出进 被广泛