以統計方法檢測亂數產生器之研究.pptVIP

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比較亂數產生器 優劣之研究 國立台灣科技大學資訊管理系 楊維寧 副教授 計畫主旨 此專案是延續『亂數產生器之亂度檢測』,目前已設計完成美國國家標準局(NIST)針對亂數產生器所定之十六種統計檢定方法的統計套裝軟體,專門用以檢測二元(0 與1)亂數序列的隨機特性,這些檢定方法針對各種可能存在的「非隨性機性」(nonrandomness)發展檢定統計量及其在「虛無假設」下的抽樣分布。 提出比較不同亂數產生器優劣之方法 比較兩個亂數產生器之優劣演算法 選定統計檢定方法 選定樣本大小 n 抽樣 n 個觀測值(即部份亂數序列),計算檢定統計量之值,計算p值 讓 重複步驟3. 至步驟4. r 次,計算 r 增加樣本數並重複步驟3. 到步驟5. * * 研究期間: 96年8月1日至97年3月31日 所有亂數產生器所生之亂數序列都不是真正的亂數,換句話說,若持續增加樣本數目,最終都會棄卻虛無假設 如果棄卻虛無假設需要愈大的樣本數目,則代表所檢定的亂數序列愈接近「隨機」特性,所以針對固定的統計檢定方法,以p-值的平均值(固定樣本大小,重複多次所得之 p-值平均)對樣本大小作圖,相同樣本數目,p-值「平均值」愈大的亂數序列代表愈接近「隨機」性。

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