高温高压条件下金刚石单晶生长界面Auger电子能谱研究.pdfVIP

高温高压条件下金刚石单晶生长界面Auger电子能谱研究 李颖1郝兆印2 1 河南工业大 2 吉林大学超硬材料国家重点宴验室 1 30023 摘要丰t月Au∞r电子能谱技术分别进行金刚{单晶生长非自的垒属腰表自Amt碳原f的精 自Auger谙口析，全刚；单晶M近丑其表自的Auger谙精自结构分析。研究≈果表明，在高m高压有催 *刺誊与T尘异15单晶生长连界自生长，存在两个i界自D—M噩M c，高高Ⅱ条件T；墨十琏 厚子《过过渡层”盟‘垒属催化荆层”千能将碡原子的电子构彤^Ls产Ⅱ志＆变成sP态，从■“破席子 酌空刚z日自体#构长纠金Ⅲ{表自，垒Ⅲ5抽格≈构的形成是在金刚j表自层完成的。 关键词：金副；单品 生长幂自^-，口r电干能语 高温高压F金刚打尊晶的成棱和生长机理一直是盒刚石行业的学者所关心的课面，它对于指导工 业生产无疑具有重要意义，但是由于在高温高压下实验测量的出难，金刚石单晶的成棱和生长机理至 今尚未研究清楚，本史通过对金剐石单晶生长界面的^uget电子能谱研究．获得一些盒刚石单晶4长 方面的信息，试为已有的机理提供一些变验依据， l实验过程 盒刚石的台戍过程是一个复杂的多相系统的物理化学过程，高温高压条件下对石墨到金刚石柏变 的观测在宴验L量到严格的限制，不能进行在位测量，本宴验采用淬火后玲却的试样来测量，因为淬火 冷却试样会保留高温高压条件下的某些信息， 试样制备： 金剐石2t妊过稗有两个典型界面，印石墨一金属(c—M)厦金属一生剐石(M．D)界面。 试样1制备方法如下将片状组装的试样断开．露出金刚石及其外面的盒属膜．将金剐石颗粒去掉． 即露出金属一金刚右表面；石墨袁面的制作方洼是将试样中的金属膜用FINO，腐蚀掉，余下的即为石墨 表面。 试样2制作方法如下：将台成片两边的石墨保留下来，用线切割技术将台成片切成3mm宽的条状 试样，观察呆状试样的断面。 2 SEM观测金刚石生长界面 率实验用JXA一840扫描电子显微镜对逋样进行现侧如同I所示。 目l触谍台全断面的；层结袖 困2 n于K激发态的原干产生 a z}．b±Ⅲ；}8．cd镕^}±j} e《m*；+f§2目 KkltAuger的{毒时 从图1可以看出，由石墨、金刚石单晶、熔入合金石墨、碳化物层、合金层等组成多层结构，并组成不 同界面。 3用Auger谱技术测量金刚石生长界面碳原子电子组态的变化 3．1 Auger电子能谱技术原理 Auger谱技术原理简单表示如图2。 3．2金刚石单晶生长界面碳原子的价态分析 有关测量结果表明，同为碳原子，由于原子的价电子在石墨和金刚石二种结构中处于不同的杂化 态，其Auger谱的谱形有明显的差别。石墨与金刚石中的碳原子的Auger谱峰的差别主要表现在： 1)Auger峰的位置，即Auger电子能量的变化； 2)Auger峰的宽度，即电子能带宽度的不同； 3)Auger峰的形状，即不同Auger跃迁产生的相对强度的改变。 ． 造成这种差别的原因是处在 表1 碳原子Auger跃迁和相应的Auger电子能量 石墨结构中的碳原子与处在金刚 2S02P2 2S12pj 2S22pO 石结构中的碳原子的“环境”不 KLlLI KL,kKLIL3KkL2KIJ2IJ3KL3b 同，即主要由于“价带效应”引起 Auger电子能量 “化学漂移”，从而引起Auger电 (eV) 243 252 258 256 266 267 子的产额及能量均有差异。 对自由状态的碳原子来讲，其Auger跃迁和相应的Auger电子能量如表1所示，表中碳的光谱符号 表明了碳原子在Auger跃迁后碳离子的终态特点。 由上表可知，碳原子的Auger线应当有六条，但实际上由于一些跃迁线间隔只有leV，实验上是区分 不出来的。因此实际上只有少数