Si衬底上MOCVD生长GaN的研究.pdfVIP

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  • 2017-08-31 发布于安徽
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2∞●●8月¨ ,卜卜置嘱●?■化●—■■●咋‘捌_鼻,—‘■灌—q■鼻¨■—峥毒—H臣 ,E,『九_●}■■——●—‘●一■‘●峨 Si衬底上MOCVD生长GaN的研究 唐海平,叶志镇。,朱丽萍,赵炳辉,洪炜,倪贤锋,赵浙 (浙江大学硅材料国家重点实验室,310027) 摘要 运用高温AIN缓冲屡在Si(111)衬底上得到了高度取向的纤锌矿结构CaN。SEM测试微裂纹密度较低 (O002)面处于双轴张应力状态。 关健词:金属有机物化学气相淀积氮化镓外延生长 1 引言 金属有机物化学气相淀积(MOCVD)系统制备。这些衬底材辩有诸多缺点,如蓝宝石由于绝缘使 制作发光二极管的工艺复杂化,而SiC价格很高。同时,这些衬底和GaN都有很大的晶格失配和热 失配【3】。si片是较为理想的衬底,因为它具有质量高,尺寸大,成本低等许多优点。另外CaN外 延在Si上,极有可能将氮化镓基的器件集成到硅基大规模集成电路之中。然而,Si衬底也和GaN 存在很大的晶格失配和热失配。为了在Si衬底上获得高质量的氮化物外延层,大多采用两

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