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X-ray的性质 特长X-ray的特征、产生条件？ 1.特征X-ray：在连续谱上，当管电压大于某个临界值Uk，连续谱线上会出现尖锐的强度峰，该峰值对应波长只与靶的原子序数有关，而与管电压无关，因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征，故称特征X-ray。 由特征X-ray构成的谱线称之为特征X-ray谱。 产生特征X-ray的最低电压称之激发电压。 2．特征X-ray产生机理： a.原子核外电子遵从包利不相容原理和能量 最小原理，最先填充能量最低轨道，依次向外排（K、L、M、N、O、P、Q）； b.当外来电子能量大到将原子核外某壳层电子击出去，或内层电子获得能量填充到未满的高能级上； c.此时原子处于激发态（不稳定态），外层电子向内层跃迁，多余的能量便以X-ray光量子的形式辐射出来； d.由于不同Z值的物质，各原子能级所具有的能量是固定的，所以 △EkL=EL-Ek=hc/λ是定值 所以λ只与εL-εk, 即只于Z有关 和原子序数关系（莫塞莱定律） 总结了特征X-ray的频率和波长只与靶的原子序数有关（即阳极靶的能级结构有关），而与外界因素无关，用关系式表示： u1/2=k2(z-σ)(阳极靶材的原子序数越大，相应于同一系的特征谱波长越短) 其中k2、σ均是与靶材有关的常数。 利用莫塞莱定律可用于物质原子序数测定（X射线荧光分析）。 吸收限 物质的原子序数越大，对X-ray的吸收能力越强；对一定的吸收体，X-ray的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些2波长位置上突然升高，出现了吸收限。 吸收限应用 ⒈滤波片（filter）的选择 ⑴.为什么要选择滤波片？ 因为在X-ray衍射分析中，希望利用单一波长（单色）X-ray，然而k系特征辐射中包括Kα、Kβ两条谱线，会在晶体衍射中产生两套花样，使分析工作受到干扰，因此希望滤掉一条。 ⑵.如何选择滤波片？ 我们知道Kβ波长小于Kα，但Kα强度高于Kβ五倍，滤掉Kβ线只留Kα线。 选择一种滤波片其吸收限λkλKβ， 即λKβλK，则λKβ被吸收掉； 而λkλKα，即λKαλk，则滤波片对Kα吸收较小（因为Kα不能激发出滤波片的荧光辐射）。 ⑶滤波片选用原则： （根据靶材决定，因为X-ray是由靶材中激发出来的） 当z靶＜40时， z滤=z靶-1 当z靶≥40时， z滤=z靶-2 2.阳极靶的选择 a. 选择原则：阳极靶产生的X-ray不能使衍射样品产生荧光X-ray，否则会增加衍射花样的背底强度，对衍射分析不利。因此，选择靶材的Kα略大于试样的λk，并尽量靠近λk，这样不产生K系荧光，而且吸收又最小。 b.根据经验公式：Z靶≤Z试样+1 第四章 多晶体分析方法 1、干涉指数的指数化 确定每对衍射线对应的干涉指数（指标化） θ→d→被测物质的晶体结构（hkl）。 以立方晶系为例，来介绍衍射花样的指标化。 即掠射角正弦的平方比等于干涉面指数平方和之比 从结构因素的计算知： 干涉面指数平方和之比 简立方点阵为 1:2:3:4:5:6:8… 体心立方为 2:4:6:8:10… 即：1:2:3:4:5:6:7… 面心立方为 3:4:8:11:12… 从而确定点阵类型。 2、简单和体心立方衍射花样的判别 1．?如果线条数目多于七根，则间隔比较均匀的是bbc，而出现线条空缺的为简单立方。 2． 当衍射线条数较少时，这一简单的判别方法则不能利用，此时可以头两根线的衍射强度作为判别。由于相邻线条θ相差不大，在衍射强度诸因素中，多重性因子等起主导作用。简单立方头两根线的指数分别为100及110。而bbc则为110与200。100与200的多重性因数为6，110的多重性因数为12，故简单立方花样中第二根线应较强，bbc则第一根线应较强。 第五章物象分析及点阵参数精确测定 第七章 电子光学基础 1、分辨率（电子显微镜受光源波长的影响） 分辨率：显微镜将成像物体上能分辨出来的两个点之间的最短距离，称之为分辨率。 △r。≈1/2λ 注意：这个距离指的是物体上的两个点，而不是像上的点。 例：人眼的分辨率0.15mm左右。 影响分辨率的主要因素 由分辨率△r。≈1/2λ可知，照明光源的波长越短，分辨率越高。 光学显微镜以可见光为照明光源，可见光的波长范围在390~760nm。因此光学显微镜的最大分辨率为200nm（2000埃）。 2、电子束聚焦（采用轴对称） 电磁透镜的聚焦成像原理：用磁场使电子波聚焦成像的装置。 用轴对称非均匀磁场可使电子波聚焦 速度为v的电子进入磁场，在A点的受力情况： ① Bz对电子无洛仑兹力作用，