第4章半导体中载流子的统计分布.docVIP

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  • 2017-08-31 发布于重庆
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第4章半导体中载流子的统计分布.doc

第4章 半导体中载流子的统计分布 在一定温度下,并且没有其它外界作用时,半导体的自由电子和自由空穴是依靠电子的热激发作用而产生的。一方面对于理想半导体材料,电子从价带跃迁到导带。对于掺杂半导体,从价带跃迁到导带外,还有电子从施主能级跃迁到导带,电子从价带跃迁到受主能级。电离能。同时,电子从高的能量状态跃迁到低的能量状态,并向晶格放出一定的能量,使导带中的电子和价带中的空穴不断减少。成为载流子的复合。在一定温度下,这两个相反的过程达到动态平衡,成为热平衡状态。半导体中的自由电子和空穴的浓度保持一个稳定值。实际上半导体的导电状态强烈的依赖于温度的变化。要深入了解半导体的导电性及其它许多性能,必须知道半导体中载流子浓度分布以及随温度的变化规律。 第一:允许的量子态按能量如何分布;第二:电子在允许的量子态中的分布几率。 k空间中量子态的分布: Z和E的关系 g(E)=dZ/dE;g(E):状态密度,在能带中能量为E附近每单位能量间隔内的量子态数。 k空间中,波矢k不能取任意值,k的允许值为: kx = nx/L (nx=0,±1,±2,…)ky= ny/L ;kz= nz/L L3 = V: 晶体体积; 任一个代表点,沿三条坐标方向均为1/L的整数倍, 所以代表点在k空间是均匀分布的,每个代表点均和体积为1/V的立方体相连系, 也就是,在k空间中,体积为1/V

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