基于C8051F410的平板式数字智能料位计_罗向东.pdfVIP

《自动化技术与应用》2009年第 28卷第 3期 经验交流 Tec hnical Communications 基于 C 8 0 5 1F 4 1 0 的平板式数字智能料位计 罗向东,李北城,赵孝文,吴 珂 (黑龙江省科学院技术物理研究所,黑龙江 哈尔滨 150086) 摘 要:本文详细介绍了一种新型的平板式数字智能料位计的系统设计。介绍了主要的测量原理、工艺结构设计、硬件电路设计、软 件流程、抗干扰设计。目前该仪表已经投入实际使用,取得预期效果。 关键词:单片机;C8051F410;平板式传感器 中图分类号:TP368.1文献标识码:B 文章编号:1003-7241(2009)03-0100-04 C8051F410-Based Flat-Plate Digital Material Meter LUO Xiang-dong, LI Bei-cheng, ZHAO Xiao-wen, WU Ke ( Technical Physics Institute of Heilongj iang Academy of Sciences, Harbin 150086 China ) Abstract: This paper introduces a novel flat-plate digital level meter. The hardware circuit of the system is presented, and the system is outlined. Key words: single chip microcomputer; c8051F4 10; flat-plate sensor 1 引言 射频导纳物位仪表是一种从电容式物位测量技术发展起来 物位测量仪表大多以差压、重锤、超声波、雷达、射线等 的,防挂料、更可靠、更准确、适用性更广的物位控制技术,射频 原理及形式研制。随着科学技术的快速发展,自动化程度的提 导纳中的导纳的含义为电学中阻抗的倒数,它由电阻性成分、电 高,对物位的测量精度、可靠性和连续性要求越来越精确,利用 容性成分、电感性成分综合而成。而射频即发射高频无线电波, 射频导纳技术研制的物位产品越来越多,现已成为市场主流物位 所以射频导纳物位控制技术是通过用高频无线电波测量被测介质 监测产品。射频导纳物位控制技术是通过高频无线电波测量被 导纳来实现物位测量。由测量原理图可以看出中心测量杆长度直 [1] [2] 测介质导纳来实现物位测量。 射频导纳技术与电容式技术最 接影响测量灵敏度,中间测量杆越长,杆相对于容器壁的电容就越 重要的区别在于测量的多样化和三电极技术。三电极技术包括 大,物料变化时测出的导纳变化也相应的变大。 电子单元和传感器,在测量电极和地极之间加入屏蔽电极,将测 量电极保护起来,不受挂料影响,使测量结果更加准确。平板式 数字智能料位计是在射频导纳物位计基础上设计的,主要是针对 测量小直径容器的物位检测。测量的物料通常为粉煤灰、煤粉 等细小的固体颗粒。 2 测量原理介绍 图2 平板物位计测量原理 针对小直径容器的物位检测,传统射频导纳有以下不足:一是 由于受到容器壁间距离所限,射频导纳料位计的中间探测杆不可 能太长,所以灵敏度极差;二是小直径容器的物流速度都比较快, 冲击力很强