热处理对V2O5纳米薄膜组织与性能的影响.pdfVIP

材料热处理技术 MaterialHeatTreatment 2008年 4月 热处理对 V2o5纳米薄膜组织与性能的影响 刘亚强 。．刘雪芹 (1．商丘师范学院 物理与信 息工程 系，河南 商丘 476000；2．兰州大学 物理学院，甘肃 兰州730000) 摘 要 ：用溶胶一凝胶技术结合旋涂法在硅基片上制备了V2()纳米薄膜，对样 品在 空气中进行不同温度 的热 处理 。用 X射线衍射 (XRD)、扫描 电子显微镜 (SEM)和 FT—IR对V20 薄膜进行 了表征 ，研究了V20 的生长过程和 反应过程 的机理及其微结构随温度的变化。结果表明，可以通过升高热处理温度来提高薄膜样品的结 晶程度 、颗 粒尺寸及其均匀程度 ，并增强V0 (oo1)晶面的取向性 ，当热处理温度升高至 500℃时 ，样品由非晶薄膜转变为致 密的棒状 多晶薄膜。同时随着热处理温度的升高 ，样 品中的V “被氧化为V “，使薄膜样 品结构发生 了重排 ，V=O 振动模式发生蓝移 。 关键词 ：V20 薄膜 ；溶胶一凝胶 ；热处理 ；微结构 中图分类号 ：TOl74．7 文献标识码 ：A 文章编号 ：l001．38l4(2008)08．0054—03 EffectsofHeatTreatmenton M icrostructureand PropertiesOf V2OsThin Film LIU Yaqiang．LIU Xueqin (1．DepartmentofPhysicsandInformationEngineering,ShangqiuTeachersCollege，Shangqiu476000,China；2Department ofPhysics，LanzhouUniversity,Lanzhou730000，China) Abstract：TheV2O5thinfilm werepreparedbythesol—gelmethodwithspin—ontechnology．Theheattreamt entof samplesatdifferenttemperaturewascarriedoutinairamt osphere．Thethinfilm wasinvestigatedbyX—raydiffraction， thescan elecrtonm icroscopy and theFT—IR．Thedevelopmentprocess，the forming mechanism ofV205and its microstrucutrewith temperautre varying wereanalyzed．The resultsshow thatbettercrystallinestatesand better crystallineorientationofV205 (001)canbeobtainedafterheatrteamtentunderproperlyincreasingheatrteamtent temperautre．XRD analysisexhibitsthatthesamplesshow amorphousstatebeforeannealingandcrystallinestateafter annealingwhenthetemperautreofheatrteamt entisupto500℃ ．ThesrtetchingvibrationofV=0 shiftstohigher wavenumberswiththeincreaseofheatrteamt enttemperautre，whichcanbeexplainedbyoxidizingV intoV ． Keywords：V205thinfilm；sol—g