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Kelvin 四线连接电阻测试技术及应用 摘要 介绍了开尔文（Kelvin ）四线连接方式测试电阻的原理 ，针对复杂电阻 网络提出电阻隔离测试技术。分析了采用全开尔文更精确测量极小电阻的方法， 介绍了在特殊情况下使用分离开尔文连接测试电阻的方法和用途。 关键词 开尔文，电阻隔离测试 ，分离开尔文连接 中图分类号 TN304.07 文献标识码 A 文章编号 1003-353X(2005)11-0043-03 1 引 言 在半导体工艺中许多器件的重要参数和性能都与薄层电阻有关 ，为提高厚、薄 膜集成电路和片式电阻的生 精度 ，需要使用设备仪器如探针台、激光调阻机 对其进行测试或修调。一般所用的测量仪器或设备都包含连接、激励、测量和 显示单元 ，有时还有后期数据处理单元。采用不同的测量方法和不同的连接方 式引入的测量误差不同 ，得到的测量精度也不同。通常开关矩阵中继电器触点 闭合电阻为1Ω左右 ，FET 开关打开时的电阻为十几欧 ，引线电阻为几百毫欧。 如何根据需要减少测量误差是测试技术的关键之一。 2 电阻测试基本原理 在电阻测试中我们常采用恒流测压方法、惠斯通电桥（单臂电桥）和双臂电桥 方法。 2.1 恒流测压方法 图１中， r 是引线电阻与接触电阻之和 ；I 是程控恒流电流源； V 是具有极高 输入阻抗的电压表 ，它对恒流电流源不产生分流作用。施加已知的恒定电流I ， 流过被测电阻R t ，然后测量出电阻两端的电压V ，当R t ＞＞ r 时 ，根据公式 Rt ＝V/ I 就可算出电阻 。 2.2 惠斯通电桥方法 图2 中，V1 ，V 2 是程控恒电压源；Rstd 是标准电阻；Rt 是被测电阻 ；I 是 电流表。当电桥平衡即流过电流表I 的电流为零时，有V1/V2=Rstd/Rt ，由 此可计算出Rt ＝Rstd×V2/V1 。 2.3 双臂电桥方法 单臂电桥测量范围为10 ～106 Ω ，单电桥测几欧姆的低电阻时 ，引线电阻和接 触电阻已经不可忽略。而双臂电桥适用于10-6 ～102 Ω电阻的测量，它是改进 的单臂电桥 ，如图3。将电桥中的中低电阻 Rt 和R 改成四端接法，并在桥路 中增加两个高阻电阻R3 和R4 ，则大大降低了引线电阻和接触电阻的影响。详 细介绍参见文献[1]。 本文主要介绍恒流测压法。当被测电阻阻 远远大于测试引线电阻和测试探针 与测试点的接触电阻时 ，采用图1 所示的两线测试的基本方法是可行的，并且 也可以获得相当高的测试精度。 3 开尔文连接测试技术 当被测电阻阻值小于几欧 ，测试引线的电阻和探针与测试点的接触电阻与被测 电阻相比已不能忽略不计时，若仍采用两线测试方法必将导致测试误差增大。 此时可采用开尔文连接方式 （或称 线测试方式）来进行测试 ，如图4。 开尔文连接有两个要求：对于每个测试点都有一条激励线F 和一条检测线S ， 二者严格分开，各自构成独立回路 ；同时要求S 线必须接到一个有极高输入阻 抗的测试回路上，使流过检测线S 的电流极小，近似为零。 图4 中r 表示引线电阻和探针与测试点的接触电阻之和。由于流过测试回路的 电流为零 ，在r3 ，r4 上的压降也为零 ，而激励电流 I 在r1 ，r2 上的压降不影 响I 在被测电阻上的压降 ，所以电压表可以准确测出 Rt 两端的电压 ，从而准 确测量出R t 的阻 。测试结果和r 无关,有效地减小了测量误差。 按照作用和电位的高低 ，这四条线分别被称为高电位施加线（HF ）、低电位施 加线（LF ）、高电位检测线（HS ）和低电位检测线（LS ）。 4 电阻隔离测试技术 对于施加的恒定激励电流能全部流过被测电阻的情况下 ，使用上述方法测试是 很简便的，比如测试单个电阻。但我们还常常遇到被测电阻与一个电阻网络并 联的情况，这个电阻网络会对施加电流有分流作用 ，导致无法采用上述方法进 行测试 ，在这种情况下我们必须采用电阻隔离测试技术，其测试电路原理如图 5。 图中，Rt 是被测电阻， R1 ，R2 串联后再与 Rt 并联 ；A1 ，A2 是高输入阻抗、 高精度运算放大器 ；DVA 是高输入阻抗、高精度差分电压的程控放大倍数仪用 放大器，它的输出与数模转换ADC 相连 ；DAC 是电流输出型数模转换器，DAC 与A1 构成程控恒流源；根据计算机控制 ，DAC 输出不同的恒定电流If。 A2 构成电压跟随电路使Vc = Ｖb ，从而I1=0。因此计算机通过16 位电流输 出型DAC 设定If 就控制了流过被测电阻Rt 的电流I t ，再通过由DVA 和ADC 构成的电压检测电路测试出 R