高分辨X光光谱的数据处理.pdfVIP

维普资讯 第 l{卷 第 9期 光 学 学 报 Vo1．14．No．8 1994年 8月 ACTA oPTICA SIN IcA August，1994 9) 高分辨x光光谱的数据处理 ， 孙 (=) 年 1。 ，1 ] 0 - △ 摘 要 给出一种高分辨光谱数据处理的普适方法，它利用博里叶反卷积、滤波等技术对谱仪记 ‘’录的光谱进行还原 ，去除宴验安排中的源加宽等 因素对谱分辨率 的影响}然后再进行非线性最小 二乘法拟合 ，突破谱仪的光谱分辨率授限，求得光谱的精细结构．给出了数据处理软件的基本结 构框图，及应用于镁的类H、类 }IeX光光谱求解证明了其有效性和实用性． 关键词 塑 性二乘法 ， 轩，琊 盎谚 1 引 言 光谱数据的高精度测量对物理、化学等各个学科领域都是十分重要的-由于谱仪本身 (如 色散元件、前置光学系统等因素)的影响，使得谱仪记录到 的光谱并非辐射源发射的真实谱 ， 而是呈现出一种复杂性 (如畸变 、噪声、加宽等)．不求出其真实谱，有时就很难对所研究的 对象进行准确诊断．本文将谱仪与傅里叶反卷积技术结合起来 ，以求获得辐射源发射的真实 光谱．鉴于谱仪分辨率的限制 ，其真实谱中有些线谱仍有可能迭加在一起 (如激光等离子体 发射的共振线和其长渡伴线群)．本文利用非线性最小二乘法去拟合光谱，进行光谱精细结 构的求解．该方浩能够对各类谱仪记录的光谱进行数据处理．为方便起见，选择激光等离子 体发射的x光光谱进行论述．作为应用的一个例子 ，就针孔晶体谱仪记录的光谱给出解谱结 果 ，并绐出由此习{得的Mg激光等离子体的电子温度，以说明该数据处理方法的可靠性． 2 基本原理 傅里叶反卷积技术在光谱测量中的应用已有很长历史了．其基本原理是 ：谱仪记录的任一谱 线均可表示为一线型函数 G(z)与真实光谱的卷积 ()：f(△A)，(^一△^)△^ (1) 其中 F(A)为谱仪记录的光谱 ，，()为激光等离子体发射的真实谱，G()代表单位强度的谱 通过谱仪后所引起的畸变．对 (1)式两边分别进行反傅里叶变换，有 ，(x)一 D(x)× l(X) (2) 收稿 日期 ：1999年 7月 16日·收到修改稿 日期 ：I993年 8月 30日 维普资讯 光 学 学 报 其中：，()一F (五)]；。(x)：F-t ()]；D()一F 1[G()]在 。(△ )已知的情况下 ， 则 ，(^)一 F ()]一FU(X)／D(X)] (3) 在实际情况下 ，FG)总是 已知的，只要知道 G()．则辐射源发射的真实谱就可获得．事实上， 0(z)有时可由谱仪的几何参数精确求得 ，这时，解谱后的谱分辨率可达谱仪色散元件的分辨 率极限；在一些不能精确求得线型函数的场合，0(z)可由经验估计给出． 在实际的数据处理过程中，所用的数据点的个数总是有限的．设有 N个数据 ^，则实际 上相当于将数据函数P乘以一矩形窗函数 ()，即