嵌入式存储器冗余单元对成品率的影响.pdfVIP

I■ 嵌入式存储器冗余单元对成品率的影响 周金成 张明慧 (郑州师范高等专科学校物理系 河南 郑州 450044) [摘 要]嵌入式存储器在SoC系统中占据的比重越来越大，其成品率直接影响着SoC系统的成品率。从介绍嵌入式存储结构入手，阐述嵌入式存储器存在常见的 缺陷，并分析嵌入式存储器冗余单元对其成品率的影响及解决方案。 一 [关键词]嵌入式存储器 SoC 结构 故障模型 冗余单元 成品率 一 、 引言 缺陷和町靠性问题。当采用130nm和90rim等更先进的工艺时，存储器的缺陷 随着超大规模集成电路工艺的发展，先进的工艺使得人们能够把包括 密度可以达到更高的水平。 处理器、存储器、模拟电路、接 口逻辑甚至射频电路集成到一个大规模的 冗余是对存储器缺陷和提高总体成品率的有效修复技巧，它在存储器 芯片上，形成所谓的SoC (片上系统)。作为SoC重要组成部分的嵌入式存 设计中提供 了多余的位来替代有缺陷的位 ，从而有助于提高成品率和降低 储器，在SoC中所 占的面积将逐渐增大。SoC器件的功能越来越复杂，需要 成本。通过设置冗余存储单元的方式可以提高成品率，但是如何检测和定 使用一系列现成可用且经过硅片验证的高性能嵌入式存储器内核。嵌入式 位存储器中的缺陷，如何分配冗余单元，都需要涉及缺陷分布的工艺制造 存储技术的发展已经使得大容量DRAM和SRAM在 目前的系统级芯片(SoC)中非 知识，需要相应工艺下存储器设计的经验和历史统计信息，才能决定合适 常普遍。大容量存储器和小容量存储器之间的折衷权衡使得各种尺寸的存 的冗余单元类型和数量。过多的冗余单元意味着不必要的芯片面积和制造 储器变得切实可行，SoC也更像过去的板级系统。同时，大容量嵌入式存储 成本。另外，在设计存储器IP模块 (宏单元)的时候，就对其进行工艺验 器给SoC带来了诸如改善带宽和降低功耗等只能通过采用嵌入技术来实现的 证和成品率优化，从而在集成~USoC之前完成优化工作，可以缩短SoC的迭 各种好处。 代周期和量产时间。 二、缺陷与故障模型 针对冗余单元的设计，公式 (I)定义了在一维情况下成品率的提高 从2003年起，MichaelNicolaidis等人建立了缺陷分布模型。如图1。 与冗余之间的关系 (以冗余列为例)。其中nc是列数 目，SClII是制造中用来 提高成品率的冗余列数目，Y是制造成品率，每位 (bit)的成品率服从指 在 罩 数分布，m是每个存储器位期望的实效个数，nr是行数目即每列中的位数。 零 毒 盟 一 ≯ I}r 0一 一 ， … 嚣 Michael 1COlaid1s寺 人 针 对 冠‘j 能譬曩 图1 缺陷分布模型图 高失效密度冗余的缺陷分布模型 (图 随着硅工艺的发展，