电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅.pdfVIP

２０１２年１０月 岩　矿　测　试 Ｖｏｌ．３１，Ｎｏ．５ Ｏｃｔｏｂｅｒ２０１２ ＲＯＣＫＡＮＤＭＩＮＥＲＡＬＡＮＡＬＹＳＩＳ ８２０～８２３ 文章编号：０２５４ ５３５７（２０１２）０５ ０８２０ ０４ 电感耦合等离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅 王小强，杨惠玲 （河南省有色金属地质勘查总院，河南 郑州　４５００５２） 摘要：以过氧化钠为熔剂，经高温熔融－热水提取 －盐酸酸化前处理样品，选用金为内标元素，电感耦合等 离子体发射光谱法测定铬矿石中的二氧化硅。试验了熔融试样时引入的基体元素钠对被测元素的干扰情 况，结果表明，钠含量高于３００ｍｇ／Ｌ时，二氧化硅的回收率均低于９２．５％。采用金内标法有效克服了基体 效应及仪器波动产生的影响，改善和提高了准确度和精密度。二氧化硅的检出限为０．００７５ｍｇ／Ｌ，测定范围 为０．０２５％～１０．０％。对铬矿石标准物质进行测定，结果与标准值一致，方法精密度（ＲＳＤ，ｎ＝９）小于２％。 与常规化学分析法进行比对试验，二氧化硅的测定值吻合较好，但克服了常规化学分析方法步骤繁琐、耗时 长、工作量大的不足，提高了工作效率。本方法也可用于同时测定铬矿石中铝、铁、钙、镁、磷等主次量成分。 关键词：铬矿石；二氧化硅；电感耦合等离子体发射光谱法 中图分类号：Ｐ６１８．３３；Ｏ６１３．７２；Ｏ６５７．３１ 文献标识码：Ｂ ＤｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｏｆＳｉｌｉｃｏｎＤｉｏｘｉｄｅｉｎＣｈｒｏｍｅＯｒｅｓｂｙＩｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙＣｏｕｐｌｅｄ ＰｌａｓｍａＡｔｏｍｉｃＥｍｉｓｓｉｏｎＳｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ ＷＡＮＧＸｉａｏｑｉａｎｇ，ＹＡＮＧＨｕｉｌｉｎｇ （ＧｅｎｅｒａｌＩｎｓｔｉｔｕｔｅｆｏｒＮｏｎｆｅｒｒｏｕｓＭｅｔａｌｓａｎｄＧｅｏｌｏｇｉｃａｌＥｘｐｌｏｒａｔｉｏｎｏｆＨｅｎａｎＰｒｏｖｉｎｃｅ， Ｚｈｅｎｇｚｈｏｕ　４５００５２，Ｃｈｉｎａ） Ａｂｓｔｒａｃｔ：ＣｈｒｏｍｅｏｒｅｓａｍｐｌｅｓｗｅｒｅｄｉｇｅｓｔｅｄｗｉｔｈＮａＯ．Ａｆｔｅｒｔｈｅｗｈｏｌｅｐｒｏｃｅｓｓｏｆｈｉｇｈｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅｍｅｌｔｉｎｇ ２ ２ ｅｘｔｒａｃｔｅｄｗｉｔｈｈｏｔｗａｔｅｒｈｙｄｒｏｃｈｌｏｒｉｃａｃｉｄ，ｔｈｅＳｉＯ ｉｎｓａｍｐｌｅｓｏｌｕｔｉｏｎｓｗａｓｄｉｒｅｃｔｌｙｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄｂｙＩｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ ２ ＣｏｕｐｌｅｄＰｌａｓｍａＡｔｏｍｉｃＥｍｉｓｓｉｏｎＳｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ（ＩＣＰＡＥＳ），ａｄｄｉｎｇＡｕａｓａｎｉｎｔｅｒｎａｌｓｔａｎｄａｒｄｅｌｅｍｅｎｔ．Ｔｈｅ ｍａｔｒｉｘｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅｉｓｄｉｓｃｕｓｓｅｄｉｎｔｈｉｓｐａｐｅｒ．ＴｈｅｒｅｓｕｌｔｓｓｈｏｗｔｈａｔｔｈｅｒｅｃｏｖｅｒｉｅｓｏｆＳｉＯ ａｒｅｌｏｗｅｒｔｈａｎ９２．５％ ２ ｗｈｅｎｔｈｅｃｏｎｔｅｎｔｏｆＮａｉｓｈｉｇｈｅｒｔｈａｎ３００ｍｇ／Ｌ．Ｔｈｅｍａｔｒｉｘｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅｅｆｆｅｃｔａｎｄｔｈｅｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｆｌｕｃｔｕａｔｉｏｎｈａｖｅ ｂｅｅｎｏｖｅｒｃｏｍｅｂｙＡｕｉｎｔｅｒｎａｌｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎｗｉｔｈｉｍｐｒｏｖｅｄｐｒｅｃｉｓｉｏｎａｎｄａｃｃｕｒａｃｙｏｆｔｈｅａｎａｌｙｓｉｓ．Ｔｈｅｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ ｌｉｍｉｔｏｆＳｉＯｗａｓ０．００７５ｍｇ／Ｌａｎｄｔｈｅｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｃｏｎｔｅｎｔｒａｎｇｅｗａｓｏｆ０．０２５％－１０．０％．Ｔｈｅｒｅｓｕｌｔｓａｒｅｉｎ ２ ａｇｒｅｅｍｅｎｔｗｉｔｈｔｈｅｃｅｒｔｉｆｉｅｄｖａｌｕｅｓｏｆｔｈｅｒｅｆｅｒｅｎｃｅｍａｔｅｒｉａｌｓａｎｄｔｈｅｐｒｅｃｉｓｉｏｎｏｆｔｈｅｍｅｔｈｏｄｉｓｌｅｓｓｔｈａｎ２％ （ＲＳＤ，ｎ＝９）．Ｃｏｍｐａｒｅｄｗｉｔｈｃｏｎｖｅｎｔｉｏｎａｌｃｈｅｍｉｃａｌａｎａｌｙｓｉｓ，ｔｈｅｍｅａｓｕｒｅｄｖａｌｕｅｓｏｆＳｉＯａｒｅｉｎａｇｒｅｅｍｅｎｔｗｉｔｈ